半導體

支援並提升半導體製造流程的品質與可靠性

理學半導體 X光計量工具旨在為半導體研發和大規模製造提供最先進、最可靠的解決方案。我們採用 TXRF、WDXRF、EDXRF、XRR、HRXRD 和 CDSAXS 等尖端技術，確保測量結果具備卓越的品質和精度。透過X光繞射（XRD）、X光螢光光譜（XRF）、X光反射（XRR）和 X光形貌術（XRT）等計量設備，可精準測量薄膜厚度、成分、粗糙度、密度、孔隙率及晶體結構缺陷等關鍵製造參數。我們還提供全反射-X光螢光光譜及氣相分解-全反射X光螢光光譜等汙染檢測專用工具，實現微量汙染物分析。

仰賴全球全天候服務和技術支援，理學致力於為客戶提供提升良率與優化製程的先進解決方案。選擇理學，以前所未有的計量技術引領產業變革，始終保持競爭優勢。