化學
物質的組成、結構、性質、行為以及其在與其他物質反應或在不同環境條件下所產生的變化，都是材料的重要特性。 X光螢光技術（XRF）可用於主元素與微量元素的測定， X光繞射技術（XRD）可用於實驗室或生產環境中晶體結構解析、物相分析和定量研究。
X光分析適用於粉末、固體、液體、漿料、薄膜及單晶等多種樣品形態。理學為學術研究和工業應用提供豐富的解決方案，涵蓋透過 X光獲得的各類成分和結構訊息，這些技術方案支援包括： X光繞射（XRD）與差示掃描量熱法（DSC）聯用、電腦斷層掃描（CT）、手持式拉曼、小角度 X光散射（SAXS）、廣角 X光散射（WAXS）、X光反射法（XRR）和 X光形貌術（XRT）。
