奈米技術與材料科學
原子至奈米尺度的 X光分析
憑藉其短波長特性，X光成為探測原子到奈米級微觀結構的理想工具。X光繞射（XRD）和散射儀器與技術在這些領域發揮著至關重要的作用。我們還提供用於元素分析的 X光螢光（XRF）光譜儀、用於無損成像的 X光電腦斷層掃描（CT），以及用於熱力學研究的熱分析儀器。理學分析儀器操作直觀易用，幫助簡化材料分析的複雜性，助您專注於核心科學研究。
先進材料與新型材料
新材料研究不斷拓展傳統分析技術的應用界線，覆蓋極薄膜層表徵以及 12 英寸晶圓級單一位錯成像等挑戰性應用。數十年來，我們一直與行業領導者合作開發尖端技術，以滿足前端研發的嚴苛需求。
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化學
我們提供涵蓋XRF、XRD、SAXS、X光成像、熱分析和拉曼光譜的完整解決方案，適用於研究液體、粉末、固體、薄膜或單晶等多種樣品類型。這些工具操作直觀，為學術研究和工業應用提供支援。
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金屬與合金
強度和結構完整性通常是金屬元件的核心指標。這些特性可通過多種分析技術進行研究和控制，包括用於元素組成分析的XRF、用於晶相與取向分析的XRD，用於內部孔隙與裂紋的無損檢測的X光 CT技術。
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聚合物與塑膠
聚合物與塑膠的研究與製程控制涉及多維度表徵。XRF可用於測定添加劑濃度，以符合 RoHS/WEEE 法規；XRD可用於鑑別多晶型並計算結晶度；SAXS可用於探測奈米尺度的週期結構；X光CT 則可三維呈現孔隙與填料的空間分佈。
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複合材料
複合材料由兩種或兩種以上材料複合而成，其最終特性取決於各成份在材料中的分佈。高解析度X光CT作為一種強大的無損成像技術，能夠清晰呈現複合材料中纖維與填料的尺寸、形狀及三維分佈特徵。
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