先進材料與新材料

現代生活的各方面都受益於塗層與薄膜技術。無論是分析整合電路芯片中的阻擋層薄膜，還是鋁製飲料罐上的轉化塗層，X光分析技術都是此類材料研發、生產過程控制和品質保障中不可或缺的一部分。透過X光螢光光譜（XRF），可精確測定塗層、薄膜、多層結構、功能材料、太陽能電池、電池零件、半導體、奈米材料及眾多其他材料的厚度與元素組成。

X光形貌術（XRT）可用於研究晶體缺陷，X光反射率技術（XRR）可用於測量薄膜厚度、表面粗糙度和層間擴散。X光繞射（XRD）及其關聯的漫散射技術（如 SAXS）正在成為薄膜和奈米技術研究的主要推動力，能夠深入解析生物、化學、物理和工程領域中的薄膜、塗層、多層結構或顆粒的分子結構本質。理學憑藉其先進技術與豐富經驗，為客戶提供一系列非破壞性、尖端分析解決方案與專業服務。