NEX QC による紙・プラスチック上のSi コーティング量の分析

Application Note XRF3009

NEX QC

はじめに

剥離紙や粘着テープの接着部を剥がれやすくするためのコーティング剤や、食品や様々な材料の酸化を防止するための包装のコーティング剤といった用途でSiが使用されています。これらの材料にSiを塗布するプロセスで、Si塗布量は製品の性能を決定するため、常に管理する必要があります。多量に塗布されるとSiが不必要に浪費され、また、少ないと製品の性能を満たすことができません。
エネルギー分散型蛍光X線分析装置 NEX QC（ネックス・キューシー）は、シンプルな操作で、Siコーティング量が分析でき、最小限のコストで信頼性の高い品質管理を行うことができます。

試料および試料調製

測定に用いる紙及びプラスチックの試料は、5 cm平方にカットして、装置に設置しました。試料室は165(W) × 190(D) × 60(H) mmですので、様々な大きさの試料もそのまま測定することができます。

装置および測定条件

NEX QCの仕様と測定条件を表1に示します。

表1　NEX QCの仕様と測定条件

NEX QCの仕様と測定条件

分析結果

(1)紙上Siコーティング量の定量分析
Si量が0.34~1.50 g/m2塗布された標準試料を用いて、検量線を作成しました。「標準値」と作成した検量線により計算された「計算値」の相関図を図1に、相関データを表2に示します。

紙上のSi量の標準値と計算値の相関図

図1　紙上のSi量の標準値と計算値の相関図

表2　紙上のSiコーティング量の相関データ

紙上のSiコーティング量の相関データ

装置の再現性を確認するために、試料No.1（薄いSiコーティング量）と試料No.6（厚いSiコーティング量）に対して、単純10回繰り返し定量分析を行いました。結果を表3に示します。

表3　紙上のSi量の単純10回繰り返し分析結果

紙上のSi量の単純10回繰り返し分析結果

(2)プラスチック上Siコーティング量の定量分析
Si量が0.56~2.20 g/m2塗布された標準試料を用いて、同様に検量線を作成し、計算値との相関図を作成しました。相関図を図2に、相関データを表4に示します。また、単純10回繰り返し定量分析を試料No.1（薄いSiコーティング量）と試料No.6（厚いSiコーティング量）に対して行った結果を表5に示します。