ZSX Primus IVi
走査型蛍光X線分析装置
下面照射タイプの走査型蛍光X線分析装置
アプリケーションの共有化が容易
上面照射タイプZSX PrimusIV と下面照射タイプZSX Primus IVi とのハード・ソフトウェアの共通プラットフォーム化によって両機種および同じ機種間でアプリケーションの共有化が容易に行えます。
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ZSX Primus IVi 概要
高度な自動判断機能を搭載したSQX分析
SQX分析は定性分析結果を用いて定量分析を行うスタンダードレスFP分析です。
・重元素から発生する高次線の影響を評価し、最適な測定条件を自動選択して、より正確なSQX分析を実現
・EZスキャンに微量元素を検出する定角測定設定モードを追加
・EZスキャンに測定時間2分以内の超高速モードを搭載
・多層膜試料のスクリーニング分析に対応
・任意の試料フィルムを試料フィルム補正に追加可能
・SQX散乱線FP分析(粉末・ポリマー用)が30mm径にも対応
・SQX再計算時にSQX散乱線FP分析への変更が可能
ヘリウム雰囲気への迅速な置換
試料室と分光室の間に真空隔壁を追加することによりヘリウム雰囲気への置換時間を短縮できます。また、液体試料ホルダー検出機構の追加により真空雰囲気へ液体試料を導入間違いがなくなり安心して測定できます。
軽元素用ガスシールド型プロポーショナルカウンター S-PC LE
ガスシールド型検出器で分析におけるガス排出はゼロ。 検出器用ガスボンベは設置不要です。
WDXシステムによるポイント/マッピング分析
r-θ駆動の試料ステージ採用で測定ポイントによるＸ線強度変化が生じることなく、100 μmのマッピング位置分解能で、プリント基板上の配線などの分析や各種材料の介在物などの微小部分析が可能です。
窒素・ヘリウムガス置換機構
ヘリウムガス置換機構に対し窒素ガスも雰囲気ガスとして使用可能となりました。窒素ガス置換時のSQX分析範囲は15P～96Cmで、SQX散乱線FP法は適用外です。
ZSX Primus IVi 特長
ZSX Primus IVi 仕様
| 製品名 | ZSX Primus IVi | |
|---|---|---|
| 手法 | 波長分散蛍光Ｘ線分析（WDXRF） | |
| 用途 | 固体、液体、粉末、合金および薄膜の元素分析 | |
| テクノロジー | 走査型 波長分散蛍光Ｘ線分析（WDXRF） | |
| 主要コンポーネント | Rhターゲット4kWまたは3kW、 試料交換機最大60試料 | |
| 主なオプション | He置換、r-θ駆動の試料ステージ、ポイント/マッピング分析、試料観察機構 | |
| 制御(PC) | 外部PC、MS Windows® OS、ZSX Guidance ソフトウェア | |
| 本体寸法 | 840 (W) x 1250 (H) x 980 (D) mm | |
| 重量 (本体) | 500 kg | |
| 電源 | 三相 200V、40 A、 50/60 Hz | |
ZSX Primus IVi オプション
以下のアクセサリーが、この製品で使用できます。
蛍光Ｘ線分析サポートアクセサリ ウルトラキャリー ®
溶液中の極微量元素を分析するのに用います。従来の点滴用濾紙（マイクロキャリー）と同様、溶液試料をそのまま滴下、乾燥させるだけで水溶液中の重元素 Pb, As, Cr, Se, Cd など数十ppbの分析ができます。
ZSX Primus IVi アプリケーションノート
以下のアプリケーションノートはこの製品に関連しています。
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XRF1131 - ZSX Primus IVによるリチウムイオン電池正極材料LiFePO₄のスタンダードレスFP分析
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BATT0004 - NMC正極材の主成分分析
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BATT0001 - 電池材料開発
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B-XRF1002 - 波長分散型蛍光 X 線分析装置 ZSX Primus IV 樹脂中のフッ素分析
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WDXRF1099 - Trace Element Analysis in Geological Samples by the Pressed Powder Method, using GEO-TRACE-PAK
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WDXRF1085 - Trace Element Analysis for Water Solution by Micro-droplet Method using Ultra Carry Filter Paper
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WDXRF1106 - Sulfur Analysis in Petroleum Products by WDXRF according to ASTM D2622-16
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WDXRF1108 - Sulfur Analysis in Crude Oil and High-sulfur Fuels by WDXRF according to ASTM D2622-16
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WDXRF1102 - Standardless FP Analysis of Plant, Animal and Food Samples Applying Correction by Scattering Line
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WDXRF1084 - Mapping and Small Spot Analysis with a General-Purpose XRF Spectrometer
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WDXRF1105 - Lubricating Oil Analysis by WDXRF According to ASTM D6443-14
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WDXRF1117 - Lead Analysis in Gasoline — ASTM D5059-21 — using WDXRF ZSX Primus IV𝒾
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WDXRF1100 - Fused Bead Analysis for Wide Concentration Ranges of Various Oxide Materials using OXIDE-FB-PAK
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WDXRF1092 - Fixed Angle Measurement using the Semi-Quantitative Analysis Function SQX of ZSX Guidance Software
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WDXRF1086 - Boron and Fluorine Quantitative Analysis for Water Solution by Micro-droplet Method using Ultra Carry Filter Paper
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WDXRF1091 - Beryllium Analysis in Beryllium Copper Alloy using ZSX Primus IV with RX85
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WDXRF1109 - Automatic Quant Application Setup Applied to Calibrating Coal Fly Ash Fused Beads
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WDXRF1104 - Analysis of S, Fe, Ni and V in Residual Oil According to IP610/13
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WDXRF1107 - Analysis of Low-concentration Sulfur in Petroleum-based Fuels by WDXRF According to ASTM D2622-16
ZSX Primus IVi イベント
学会や展示会にご参加の際は、リガクの展示ブースにぜひお立ち寄りください。
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イベント日付場所ウェブサイト
