X線回折・散乱装置

X線回折法（XRD）は、主に粉末材料を分析するため広く使用される手法であり、その結晶相組成や結晶粒径について知見が得られます。回折ピークの位置と強度を分析することで、研究者は材料の格子定数、結晶構造などを決定することができます。XRDはまた、機械的な応力やひずみによる格子面間隔の変化を回折ピーク位置の変化として検出することで、材料内部の応力を定量化することができます。

小角X線散乱法（SAXS）では、試料中のナノ粒子、空孔、または他のナノ構造物のサイズ分布、形態、配置に関する情報が得られます。

X線回折装置、小角X線散乱装置は、材料科学、冶金学、地質学、製薬研究などにおいて重要な役割を果たし、先端材料の特性評価や開発を支援しています。