HyPix-3000/3000HE
ハイブリッド型多次元ピクセル検出器
粉末から薄膜解析までを1つの検出器で対応できる、次世代の2次元半導体検出器
0次元/1次元/2次元すべての測定モードをカバー
1台の検出器で2次元だけでなく1次元、0次元検出器としての機能もサポートし、検出器をアプリケーションに応じて交換する必要がありません。粉末の高速測定から薄膜の2次元測定まで、1つの検出器で対応できます。
バックグラウンドを極限までカット
個々のピクセルに2個のコンパレーターが内蔵されており、Low側の閾値は電気ノイズや蛍光X線によるバックグラウンドの上昇を低減し、High 側の閾値は宇宙線や連続線などのノイズとなる原因を除去します。これによりS/Nの優れたデータを取得できます。

HyPix-3000/3000HE 概要
広いダイナミックレンジ
2つの16bitデジタルカウンターを内蔵し、これらを結合して1つのカウンターとして動作させることで、31bitの高計数カウンターとして使用することが可能です。この31bitモードにより、広いダイナミックレンジを必要とするような測定であってもアッテネーターを使用せずに測定できます。
優れた位置分解能
ピクセルサイズが100×100µm2と非常に小さいため、優れた位置分解能を実現しています。短時間の1次元測定でも十分な強度の回折パターンを得ることができます。
ゼロデッドタイムで高速測定を実現
2つのカウンターを計数/読み出しと交互に切り替えることにより、データ読み出しにかかるデッドタイムを実質ゼロにできます。そのため、シャッターレス測定による連続した時分割測定が可能となり、in situ(その場)測定にも最適です。
広域逆格子空間マッピングも短時間で完了
露光モードによる2 次元測定の他に、2 次元TDIスキャンによる測定が可能です。この測定では、スキャン中に有効検出面積分のデータが積算されるため、微弱な回折線であっても強度の高い2次元データとして像を得ることができます。この機能を利用することにより、広範囲にわたる逆格子点の情報を高速に測定できます。
HyPix-3000/3000HE 特長
粉末から薄膜解析までを1つの検出器で対応できる、次世代の2次元半導体検出器です。有効検出面積約3,000mm2の大面積、広いダイナミックレンジ、ピクセルサイズ100µmによる優れた位置分解能を実現。バックグラウンドを極限までカットしたノイズフリー測定やシャッターレス測定などにより、高速高分解能測定を実現します。
HyPix-3000/3000HE 仕様
製品名 | HyPix-3000 | |
---|---|---|
手法 | X線回折(XRD) | |
用途 | 高速・高感度のフォトンカウンティング検出器 | |
テクノロジー | 広いダイナミックレンジ、ピクセルサイズ100µmによる優れた位置分解能 | |
主要コンポーネント | 高位置分解能ピクセルアレイ検出器 | |
オプション | ||
制御(PC) | 外部PC、MS Windows® OS | |
本体寸法 | 147 (W) x 93 (H) x 180 (D) (mm) | |
質量 | 約 2 kg(本体) | |
電源 | 単相 100-240 V, 15 A |
HyPix-3000/3000HE アプリケーションノート
以下のアプリケーションノートはこの製品に関連しています。
-
B-XRD2008 - X線回折装置による強誘電体薄膜の配向評価
-
B-XRD1143 - FP法で求めた結晶子サイズの妥当性の検証
-
B-XRD1131 - PDF解析によるゼオライトの構造評価
-
B-XRD1112 - PDF解析によるシリカガラスの構造評価
-
B-XRD1123 - 透過X線回折測定によるラミネートセルの 正極材と負極材の同時オペランド測定
-
B-XRD1080 - Mo線源を用いた リチウムイオン電池材料のリートベルト解析
-
B-XRD1118 - 2次元検出器を用いた 金属材料の高速極点測定
-
B-XRD2023 - 2次元検出器を用いた微小角入射広角X線 散乱法による有機薄膜の結晶相同定
-
B-XRD1103 - 2次元回折像を利用した 鉱物粉末中の微量粗大粒子の結晶相同定
-
B-XRD2020 - 2次元検出器を用いた固体酸化物型 燃料電池材料の結晶相・配向状態評価
-
B-XRD1137 - 微小部X線回折測定による 錠剤表面に付着した微小不純物の結晶相同定
-
B-XRD1124 - Ag線源を用いた 全固体リチウムイオン電池の透過X線回折測定
-
B-XRD1116 - 2次元検出器を用いた ラミネート型リチウムイオン電池のオペランド測定
-
B-XRD2032 - 2次元検出器を用いた微小角入射広角X線散乱法によるポリプロピレン製品の配向状態評価
-
B-XRD1135 - XRD-DSC測定によるバターの結晶構造の観察
-
B-XRD1117 - 高温昇温・特殊ガス雰囲気下における 結晶相変化のその場観察
-
B-XRD1089 - 電子基板の微小領域マッピング測定
-
B-XRD1107 - PDF解析及びRDF解析による材料評価
-
B-XRD1101 - デスクトップX線回折装置と高速2次元検出器を 用いた水和物の脱水挙動の観察
-
B-XRD1105 - 2次元検出器を用いた 金属融解挙動の高速時分割測定
-
B-XRD2021 - 1次元検出器モードを用いた SiGeエピタキシャル薄膜の高速逆格子マップ測定
-
B-XRD2024 - 1次元検出器モードを用いた III族窒化物薄膜の高速逆格子マップ測定
-
B-XRD1122 - X線回折法によるう蝕歯の結晶状態の評価
-
B-XRD1104 - 2次元回折像を利用した 超硬材の粒子状態と配向状態の確認
-
B-XRD1108 - 多データ高速処理と2次元検出器を用いた 生クリームの融解・結晶化過程の観察
-
B-XRD1126 - XRD-DSC同時測定によるチョコレートの結晶構造観察
-
B-XRD1044 - 微小部2次元X線回折測定による 超硬チップの結晶相同定
-
B-XRD1106 - 2次元検出器を用いたリチウムイオン電池正極材のオペランド測定
-
B-XRD1139 - PDF解析によるフタロシアニン銅の分子積層間隔の算出
-
B-XRD1127 - Cu線源とデスクトップX線回折装置を用いた 鉄酸化物の低バッググラウンドプロファイル測定
-
B-XRD2026 - 広域逆格子マップによる 面内異方性基板上のエピタキシャル膜の評価
HyPix-3000/3000HE イベント
学会や展示会にご参加の際は、リガクの展示ブースにぜひお立ち寄りください。
-
イベント日付場所ウェブサイト
