高分子分析セミナー シリーズ

X線回折法による結晶性高分子の応力測定精度の評価

開催日時：2025年5月13日（火）14:00～15:15（14:30～15:15）

高分子の応力測定にご興味のある方やお困りの方、ぜひお集まりください！
近年、自動車産業を主に省エネや低環境負荷を目的として高分子の軽量化材料としての利用が進んでおり、高分子の内部応力測定の需要も高まっています。一方で高分子の応力測定の手順や解析方法に関する公知の情報は限られていることから、「どのような結果が得られるのか」、「得られた結果をどのように判断したらよいのか」などのご相談が多く寄せられております。

今回ご紹介するX線応力測定は、金属やセラミックスの内部応力を非破壊で定量的に評価する手法として知られていますが、高分子に対しても適用できます。
本ウェビナーでは、X線応力測定の原理と基礎に加え、結晶性高分子の測定事例を交えながら、高分子のX線応力測定を高精度に行うためのポイントをご紹介します。