高分子分析シリーズ #1. X線CTによる高分子材料の構造評価

Q&A：

Q1: 特性X線を用いるのは吸収端前後での強度変化を利用してコントラストを強調することが目的でしょうか。

A: 特性X線は、連続X線に比べてエネルギー幅が非常に狭いため、特定のエネルギーのX線を得ることができます。 低密度試料を撮影する際は低エネルギーのX線で撮影することが望ましいですが、連続X線には高エネルギー成分も含まれるため、これがコントラストの低下を招く要因となります。 そこで、余分な高エネルギー成分を含まない特性X線を利用することで、コントラストが高い画像を得ることができます。

Q2: X線が照射できない素材等はありますか？

A: 基本的にX線を照射できない素材はありません。 ただし、重金属を含む試料などはX線を照射しても透過しにくいため、画像の取得が難しいことがあります。 X線が適度に透過するよう、試料に合わせたX線のエネルギーを設定することが重要です。

Q3: CTで特性X線を用いて撮像する時は、X線源を丸丸交換する必要があるということでしょうか。（ソフト上で切り替えられるものではない？）

A: 特性X線による撮影が可能なCT装置（nano3DX）ではX線源を4種類から選択できますが、そのうち2種類までであればソフト上で切り替えが可能です。

Q4: 特性X線同士の切り替えは可能とのことでしたが、W線源と特性X線源の切り替えはできないということでしょうか。

A: 特性X線による撮影が可能なCT装置（nano3DX）には、W線源も搭載可能です。 Cu線源（特性X線）とW線源の切り替えが可能なX線源もご用意しております。 ただし、nano3DXにおける各線源の電圧は固定されています。