Was ist der Unterschied zwischen RFA und RDA?

Mai 6, 2026

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Haben Sie sich jemals gefragt, worin der Unterschied zwischen Röntgenfluoreszenzspektrometern (RFA) und Röntgendiffraktometern (XRD) besteht – oder welches Gerät für bestimmte Anwendungen sinnvoll ist und warum?  Wenn ja, sind Sie damit nicht allein. Beide Analysetechniken nutzen Röntgenstrahlung und führen häufig zu Verwirrung, insbesondere bei Einsteigern in die Materialanalyse. 

Auch die Terminologie trägt zur Verunsicherung bei. Selbst mit jahrelanger Erfahrung im Umgang mit verschiedenen Röntgenmethoden hatte ich anfangs ähnliche Fragen. Wenn Sie sich also über die Unterschiede zwischen Radiographie und CT Gedanken machen, sind Sie hier genau richtig. Dieser Artikel hilft Ihnen dabei, herauszufinden, welche Röntgenbildtechnik am besten zu Ihren Anforderungen passt. 

 


  1. Unterschiede zwischen RFA und XRD
  2. Grundsätze von XRF und XRD
  3. Wie XRF funktioniert
  4. Wann wird XRF eingesetzt?
  5. Funktionsweise von XRD
  6. Wann ist XRD zu verwenden?
  7. Unterschiede in der Probenvorbereitung
  8. Unterschiede bei den Nachweisgrenzen
  9. Unterschiede bei den Gerätekosten
  10. Zum Mitnehmen

 

1. Unterschiede zwischen RFA und XRD

Der wichtigste Unterschied zwischen RFA (auch XRF genannt) und XRD aus Sicht der Materialanalyse besteht darin, dass die RFA Elemente sowohl in kristallinen als auch in amorphen Materialien identifizieren und quantifizieren kann. Die Kristallstruktur hat keinen Einfluss auf die RFA-Ergebnisse. Im Gegensatz dazu dient die XRD der Identifizierung und Analyse kristalliner Materialien auf Basis ihrer Kristallstruktur bzw. atomaren Anordnung. Änderungen in der Elementzusammensetzung beeinflussen die XRD-Ergebnisse in der Regel kaum – es sei denn, sie führen zu einer Veränderung der Kristallstruktur. Kurz gesagt: XRD liefert strukturelle (kristallographische) Informationen, während RFA elementare Informationen liefert. 

Ein Beispiel: Möchten Sie den Schwefelgehalt in Dieselkraftstoff bestimmen und quantifizieren, ist RFA die geeignete Methode, da XRD bei flüssigen Proben kaum aussagekräftig ist und Spuren im ppm-Bereich nicht erfassen kann. Wenn Sie hingegen verschiedene TiO₂-Phasen wie Anatas und Rutil unterscheiden möchten, benötigen Sie XRD, da diese anhand ihrer spezifischen Kristallstrukturen eindeutig identifiziert werden können. Für RFA hingegen sind beide lediglich TiO₂ – ein Unterschied ist damit nicht erkennbar. 

Differences between XRF and XRD

Darüber hinaus unterscheiden sich diese beiden Techniken in weiteren Aspekten wie Nachweisgrenzen, Genauigkeit, Probenvorbereitung, Geräte- und Betriebskosten und vielem mehr. Für einen fundierten Vergleich ist es hilfreich, die zugrunde liegenden Messprinzipien zu verstehen. Im Folgenden geben wir daher einen kurzen Überblick über die Funktionsweise beider Verfahren und beleuchten anschließend die einzelnen Unterschiede im Detail. 

 

2. Grundprinzipien von RFA und XRD 

Beide Verfahren basieren auf Röntgenstrahlung, gewinnen jedoch sehr unterschiedliche Informationen aus einer Probe. Wenn man versteht, wie RFA und XRD funktionieren, wird schnell klar, wann welches Verfahren sinnvoll eingesetzt werden sollte. Im Folgenden finden Sie eine kurze Übersicht über die Funktionsweise beider Techniken: 

Merkmal

XRF

XRD

Verwendetes Prinzip

Röntgenfluoreszenzspektroskopie

Röntgendiffraktion

Häufig verwendete Röntgenquelle

Rhodium (Rh), Silber (Ag), Palladium (Pd)

Kupfer (Cu), Molybdän (Mo)

Monochromatisierung

Monochromatische Anregung mit Sekundärzielen oder polychromatische Anregung mit Primärstrahlfiltern

Es werden sowohl kontinuierliche (weiße) als auch charakteristische Röntgenstrahlen verwendet.

Monochromatisierung der einfallenden Röntgenstrahlen durch einen Filter, Spiegel oder Kristall

Es wird nur charakteristische Röntgenstrahlung verwendet.

Atmosphäre für die Messungen

Normalerweise in Luft, Helium oder im Vakuum

In der Regel in Luft; spezielle Bedingungen für In-situ-Messungen verfügbar

Üblicherweise verwendete(r) Detektor(en)

Siliziumdriftdetektoren (SDD), gasproportionale Detektoren und Szintillationszähler (SC)*

Szintillationszähler, Festkörperstreifen, 2D-Detektoren

Nachweisgrenze

Kann Elemente bis in den sub-ppm-Bereich (Teile pro Million) nachweisen

Im Allgemeinen etwa 1-5 % für kristalline Phasen

Messgenauigkeit

Hoch für die Elementzusammensetzung; abhängig von der Kalibrierung und der Homogenität der Probe

Hoch für die Identifizierung der kristallinen Struktur und Phase; abhängig von der Qualität der Probenvorbereitung

Analysiertes Volumen

Fläche: 10 ~ 1.000 mm2

Tiefe: Millimeter bis Mikrometer, je nach analysiertem Element

Fläche: 10 ~ 100  mm2

Tiefe: Millimeter bis Mikrometer, abhängig von der einfallenden Röntgenenergie

*  SDDs werden aufgrund ihrer hohen Energieauflösung typischerweise in der energiedispersiven RFA (EDRFA) eingesetzt, während gasproportionale Detektoren und Szintillationszähler (SC) überwiegend in der wellenlängendispersiven RFA (WDRFA) verwendet werden. 

 

3. Funktionsweise der RFA

Bei der RFA steht die Identifizierung und Quantifizierung von Elementen in einer Probe mit hoher Empfindlichkeit im Vordergrund. Sie ist die Methode der Wahl, wenn eine detaillierte Analyse der Elementzusammensetzung – einschließlich Spurenelementen – erforderlich ist.

  • Erzeugung von Röntgenstrahlen: Hochenergetische Röntgenstrahlen werden erzeugt und mit nur geringer Monochromatisierung auf die Probe gerichtet. Häufig kommen dabei Targets aus Rhodium (Rh), Silber (Ag) oder Palladium (Pd) zum Einsatz.
  • Anregung: Die einfallenden Röntgenstrahlen regen die Atome in der Probe an, wobei Elektronen aus den inneren Schalen herausgelöst werden.
  • Emission: Wenn Elektronen aus äußeren Schalen diese Leerstellen auffüllen, wird sekundäre (fluoreszierende) Röntgenstrahlung emittiert. Die Energie dieser Fluoreszenzstrahlung ist für jedes Element charakteristisch.
  • Detektion: Die Energieverteilung der emittierten Röntgenstrahlen wird gemessen und liefert einen elementaren „Fingerabdruck“ der in der Probe enthaltenen Elemente.
  • Analyse: Anhand der Intensität der Fluoreszenzstrahlung werden die Elemente identifiziert und quantifiziert. Für präzisere Ergebnisse wird in der Regel eine Kalibrierung mit Referenzmaterialien durchgeführt.

Röntgenfluoreszenzverfahren lassen sich weiter danach unterscheiden, wie die Röntgenenergie aufgelöst wird. Entweder kommen energiedispersive Detektoren oder wellenlängendispersive Analysekristalle zum Einsatz. Erstere werden als  EDXRF (energiedispersive RFA) bezeichnet und sind vergleichsweise kompakt und kostengünstig. Letztere nennt man WDRFA (wellenlängendispersive RFA); diese Systeme sind in der Regel größer und teurer, bieten jedoch eine höhere spektrale Auflösung. Darüber hinaus gibt es tragbare RFA-Geräte für den Feldeinsatz sowie die  TXRF (Totalreflexions-RFA) für oberflächennahe Analysen.

Rigaku XRF spectrometers

RFA-Spektrometer (von links: EDXRF-Tischgerät, WDXRD-Standgerät, WDXRF-Tischgerät)

Die RFA wird häufig für die schnelle und zerstörungsfreie Elementaranalyse in unterschiedlichsten Anwendungsbereichen eingesetzt, etwa in der Umweltüberwachung, der Metallurgie und der Archäologie. Sie eignet sich besonders zur präzisen, empfindlichen und schnellen Bestimmung der Elementzusammensetzung von Materialien wie Metallen, Böden oder Artefakten. In der Qualitätskontrolle wird sie eingesetzt, um sicherzustellen, dass sowohl Rohstoffe als auch Endprodukte die vorgegebenen Elementanforderungen erfüllen.

 

4. Wann wird RFA eingesetzt?

Die RFA ist die bevorzugte Methode, wenn eine schnelle und zuverlässige Analyse der Elementzusammensetzung eines Materials erforderlich ist. Sie liefert einen umfassenden Überblick über die in einer Probe enthaltenen Elemente und ist daher für zahlreiche Anwendungen äußerst wertvoll. XRD hingegen ist für amorphe oder flüssige Proben nur eingeschränkt geeignet und kann Spurenphasen unter Umständen nicht erfassen.

Typische Einsatzgebiete der RFA:

  • Elementaranalyse: Die RFA ist ideal zur Bestimmung der elementaren Zusammensetzung verschiedenster Proben – von Metallen über Böden bis hin zu archäologischen Artefakten.
  • Qualitätskontrolle: In der industriellen Produktion stellt die RFA sicher, dass Rohstoffe und Endprodukte die geforderten Spezifikationen erfüllen und eine gleichbleibend hohe Produktqualität gewährleistet ist.
  • Umweltüberwachung: Die RFA wird zur Analyse von Schadstoffen in Boden, Wasser und Luft eingesetzt und spielt eine wichtige Rolle bei der Überwachung von Umweltbelastungen und der Sicherstellung von Umweltstandards.
  • Metallurgie: Die RFA eignet sich hervorragend zur Analyse der Zusammensetzung von Metallen und Legierungen und trägt so zur Optimierung ihrer Eigenschaften und Anwendungen bei.
  • Archäologie: In der Archäologie unterstützt die RFA die Untersuchung der Elementzusammensetzung von Fundstücken und hilft dabei, deren Herkunft und Authentizität zu bestimmen.

XRF spectrum of magnesium alloy

Element

Analytischer Wert

Standardwert

Mg

99.83 (0.0)

99.82

Al

0.059 (1.3)

0.062

Si

0.031 (0.5)

0.029

Fe

0.0048 (4.1)

0.0061

Ni

0.0030 (4.0)

0.0029

Cu

0.0108 (1.1)

0.0109

Zn

0.0114 (1.4)

0.0122

Ag

0.0042 (5.0)

0.003

La

0.0011 (59.0)

0.0014

Ce

0.0011 (29.5)

0.0019

Pb

0.0049 (2.0)

0.0061

( ):Relative Standardabweichung (%) (n=10)

Beispiel eines WDRFA-Spektrums und Analyseergebnisse einer Magnesiumlegierung (61XMGP2, ausgestellt von MBH Analytical Ltd.)

Faustformel: Setzen Sie die RFA ein, wenn Ihr Hauptziel darin besteht, die in Ihrer Probe enthaltenen Elemente zu bestimmen. Wenn Sie eine umfassende Elementanalyse benötigen – insbesondere für unterschiedliche Probentypen, einschließlich amorpher oder flüssiger Materialien – ist die RFA die geeignete Methode.

 

5. Wie XRD funktioniert

Die XRD ist eine Methode, die speziell zur Untersuchung der kristallinen Struktur von Materialien entwickelt wurde. Wenn es darum geht, kristalline Phasen oder die atomare Anordnung innerhalb dieser Phasen zu analysieren, ist sie das Verfahren der Wahll.

  • Erzeugung von Röntgenstrahlen: Röntgenstrahlen mittlerer Energie werden auf die kristalline Probe gerichtet. Häufig wird dabei monochromatische, für Kupfer (Cu) charakteristische Strahlung mit etwa 8 keV eingesetzt.
  • Beugung: Die einfallenden Röntgenstrahlen wechselwirken mit dem Kristallgitter und werden unter bestimmten Winkeln gebeugt.
  • Detektion: Die gebeugten Strahlen werden detektiert und ergeben ein charakteristisches Beugungsmuster aus Beugungswinkel (2θ) und Intensität.
  • Analyse: Dieses Muster wird mit Datenbanken bekannter XRD-Referenzmuster verglichen, um die vorhandenen Phasen zu identifizieren. Anschließend können die einzelnen Phasen quantifiziert oder ihre Kristallstrukturen mithilfe von Methoden wie der Profilanpassung (z. B. Rietveld-Analyse) weiter verfeinert werden.

XRD wird typischerweise zur Analyse der kristallinen Struktur von Materialien eingesetzt und ist daher in Bereichen wie Materialwissenschaft, Geologie und Pharmazie unverzichtbar. Besonders wichtig ist die Methode für die Phasenidentifizierung, also die Bestimmung unterschiedlicher kristalliner Phasen in einer Probe, sowie für die Kristallographie zur Untersuchung der atomaren Anordnung. Darüber hinaus wird XRD in der Qualitätskontrolle von Zement, Keramik und Metallen eingesetzt, um Eigenschaften wie Kristallinität, Korngröße und Eigenspannungen zu bestimmen, die maßgeblich die mechanischen Eigenschaften und die Gesamtleistung beeinflussen.


Rigaku X-ray diffractometers

Röntgendiffraktometer (links: XRD-Standgerät, rechts: XRD-Tischgerät)

 

6. Wann sollte man XRD einsetzen?

Die Stärke der XRD liegt in ihrer Fähigkeit, die Struktur und die Phasen kristalliner Materialien zu analysieren. In der pharmazeutischen Industrie können beispielsweise unterschiedliche Kristallformen (Polymorphe) eines Wirkstoffs stark variierende Löslichkeiten aufweisen, was die Wirksamkeit beeinflusst. In der Metallurgie bestimmen die in einer Legierung vorhandenen Phasen maßgeblich deren Festigkeit und Haltbarkeit. Für solche Fragestellungen ist XRD unverzichtbar, da RFA keine polymorphen Formen unterscheiden kann.

Typische Einsatzgebiete der XRD:

  • Phasenidentifizierung: XRD eignet sich hervorragend zur Identifizierung verschiedener kristalliner Phasen – eine zentrale Anforderung in Bereichen wie Metallurgie, Keramik und Pharmazie.
  • Kristallographie: Wenn es um die Untersuchung von Kristallstrukturen und Gitterparametern geht, ist XRD das geeignete Verfahren. Dies ist besonders wichtig, um das Verhalten von Materialien unter unterschiedlichen Bedingungen zu verstehen.
  • Materialwissenschaft: XRD ist ideal zur Analyse von Kristallinität, Korngröße und Dehnung in Werkstoffen – entscheidende Faktoren für Festigkeit und Lebensdauer.
  • Geologie: XRD ist unverzichtbar zur Identifizierung von Mineralien und zur Untersuchung der Zusammensetzung und Entstehung von Gesteinen.
  • Pharmazie: XRD spielt eine zentrale Rolle bei der Charakterisierung polymorpher Arzneistoffe, da unterschiedliche Kristallformen die Stabilität und Wirksamkeit beeinflussen können.

Faustregel: Setzen Sie XRD ein, wenn Materialien anhand ihrer Kristallstruktur unterschieden werden sollen oder wenn detaillierte kristallographische Informationen erforderlich sind. Immer dann, wenn kristalline Phasen, atomare Anordnung oder strukturelle Details entscheidend sind, ist XRD die richtige Wahl.

 

7. Unterschiede in der Probenvorbereitung

Ein oft unterschätzter, aber entscheidender Aspekt der Röntgenanalyse ist die Probenvorbereitung. Die Art und Weise, wie eine Probe vorbereitet wird, hat großen Einfluss auf die Qualität und Genauigkeit der Ergebnisse sowie auf die Effizienz des gesamten Analyseprozesses.

Probenvorbereitung für RFA

Die Probenvorbereitung für EDRFA ist in der Regel einfach und flexibel. Proben können als Feststoffe, Pulver, Flüssigkeiten oder auch als gepresste Tabletten (Pellets) analysiert werden. Bei der WDRFA ist die Probenvorbereitung häufig aufwendiger, da Messungen oft unter Vakuum erfolgen.

Sowohl bei EDRFA als auch bei WDRFA ist eine glatte und homogene Probenoberfläche entscheidend, um Streueffekte zu minimieren und eine gleichmäßige Wechselwirkung mit der Röntgenstrahlung sicherzustellen. Für präzise quantitative Analysen kann es erforderlich sein, die Probe als Schmelzperle aufzubereiten. Dieses Verfahren reduziert Matrixeffekte und erhöht die Genauigkeit der Ergebnisse.

Probenvorbereitung für XRD

Bei der XRD besteht die Probenvorbereitung in der Regel darin, das Material zu einem feinen Pulver zu vermahlen. Ziel ist es, eine hohe Homogenität und eine statistisch zufällige Orientierung der Kristallite zu erreichen. Dies ist entscheidend, da eine bevorzugte Orientierung oder zu große Kristallite das Beugungsmuster verfälschen und somit zu fehlerhaften Phasenidentifikationen führen können.
Das Pulver wird anschließend in einen Probenhalter eingebracht und typischerweise unter Umgebungsbedingungen (an Luft) gemessen.

xrf and xrd sample preparations

 

8. Unterschiede bei den Nachweisgrenzen

Die Empfindlichkeit einer Analysetechnik ist häufig ein entscheidender Faktor bei der Wahl zwischen RFA und XRD. Die Nachweisgrenze beschreibt die kleinste Menge einer Substanz, die mit einem Verfahren zuverlässig erfasst werden kann. Ein Verständnis dieser Grenzen ist besonders wichtig, wenn Spurenelemente oder gering konzentrierte Phasen analysiert werden sollen.

Die RFA zeichnet sich durch eine sehr hohe Empfindlichkeit beim Nachweis von Elementen aus. Typische Nachweisgrenzen liegen im ppm- bis hin zum sub-ppm-Bereich. Dadurch ist sie besonders geeignet für Anwendungen, bei denen kleinste Elementmengen bestimmt werden müssen, etwa in der Umweltanalytik oder bei der Qualitätskontrolle hochreiner Materialien.

Die XRD hingegen ist in der Regel weniger empfindlich gegenüber Spurenphasen oder Komponenten in niedriger Konzentration. Die Nachweisgrenzen liegen typischerweise im Bereich von etwa ein bis wenigen Prozent der gesamten Probenzusammensetzung.

 

9. Unterschiede bei den Gerätekosten

Die Kosten spielen bei der Investition in analytische Instrumente eine wichtige Rolle. Sowohl Anschaffungskosten als auch laufende Betriebs- und Wartungskosten unterscheiden sich bei RFA- und XRD-Systemen teils erheblich. Ein Verständnis dieser Unterschiede hilft dabei, die passende Lösung im Spannungsfeld zwischen Budget und analytischen Anforderungen zu wählen.

Die Bandbreite bei RFA-Geräten ist groß: Sie reicht von vergleichsweise günstigen Handgeräten über EDRFA- und WDRFA-Tischsysteme bis hin zu leistungsstarken, bodenstehenden WDRFA-Anlagen. Je nach Konfiguration liegen die Kosten für stationäre RFA-Geräte typischerweise zwischen etwa 30.000 und 150.000 US-Dollar. Hochleistungs-RFA-Systeme können jedoch auch Preise von über 200.000 US-Dollar erreichen und damit in den Bereich von XRD-Geräten vordringen. Aufgrund ihrer Vielseitigkeit, der meist einfachen Probenvorbereitung und der schnellen Messzeiten ist die RFA häufig die kosteneffizientere Lösung für die routinemäßige Elementanalyse.

XRD-Systeme sind aufgrund ihrer höheren Komplexität und der erforderlichen Präzision in der Regel teurer. Tischgeräte beginnen bei etwa 100.000 US-Dollar, während leistungsstarke, bodenstehende Systeme Kosten zwischen etwa 150.000 und 500.000 US-Dollar erreichen können. Hinzu kommen oft zusätzliche Investitionen, etwa für hochwertige Probenvorbereitung, spezialisierte Auswertesoftware und regelmäßige Wartung, um verlässliche Ergebnisse sicherzustellen. Für Anwendungen, bei denen detaillierte Informationen zur Kristallstruktur entscheidend sind, ist diese Investition jedoch häufig gerechtfertigt

 

Faustregel: Bei begrenztem Budget und Fokus auf Elementanalysen für ein breites Probenspektrum ist die EDRFA meist die kostengünstigste Wahl. Wenn eine höhere spektrale Auflösung oder bessere Leistung bei leichten Elementen und niedrigen Konzentrationen erforderlich ist, empfiehlt sich WDRFA. XRD lohnt sich insbesondere dann, wenn eine detaillierte Analyse der Kristallstruktur erforderlich ist und das Budget eine höhere Anfangsinvestition erlaubt.

 

10. Fazit

Das Verständnis der wesentlichen Unterschiede zwischen RFA und XRD ist entscheidend, um die passende Methode für Ihre spezifischen Anforderungen auszuwählen. Beide Techniken liefern unterschiedliche, aber wertvolle Informationen – und in vielen Fällen ergänzen sie sich, um ein umfassenderes Bild Ihrer Probe zu erhalten.

Die Wahl der falschen Methode kann zu unvollständigen Ergebnissen, Zeitverlust und im schlimmsten Fall zu kostspieligen Fehlinterpretationen führen. Dieser Artikel soll Ihnen dabei helfen, die Unterschiede klarer zu verstehen und eine fundierte Entscheidung bei der Auswahl des geeigneten Verfahrens zu treffen.
Wenn Sie Fragen haben oder Unterstütz
ung bei der Auswahl der richtigen Technik benötigen, steht Ihnen unser Expertenteam gerne zur Verfügung. Sprechen Sie mit einem unserer RFA- und XRD-Spezialisten, indem Sie auf die Schaltfläche „Mit einem Experten sprechen“ oben rechts auf der Seite klicken oder uns unter 
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Bridget ist Product Marketing Managerin für RFA (Röntgenfluoreszenz) bei Rigaku und verbindet ihre technische Expertise gezielt mit den praktischen Anforderungen der Anwender. Ihr Antrieb ist es, Kunden durch fundiertes Wissen zu unterstützen und sicherzustellen, dass sie die optimalen Lösungen für ihre Anwendungen erhalten. Mit Abschlüssen in Physik und Mathematik begann sie ihre Karriere in der Entwicklung und dem Bau von RFA-Spektrometern. Anschließend übernahm sie Aufgaben in der Anwenderbetreuung sowie in der Produktinnovation, wo sie ihre Erfahrung weiter vertiefen konnte. Ihr Fachwissen umfasst ein breites Spektrum – von Fertigung und Applikationen über Produktentwicklung bis hin zu Forschung und Entwicklung (F&E). Darüber hinaus erweiterte sie ihre Perspektive durch ihre Tätigkeit in einem Biopharmaunternehmen. Heute liegt ihr Fokus darauf, technische Inhalte verständlich zu vermitteln und RFA-Technologie für Anwender unterschiedlichster Branchen klar, greifbar und zugänglich zu machen.

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