SmartLab
Automatisiertes Mehrzweck-Röntgendiffraktometer (XRD) mit Steuerungssoftware
Pulverdiffraktometrie, Dünnschichtmesstechnik, SAXS, In-Plane-Scattering, Operando-Messungen
Rigaku SmartLab ist das neueste und innovativste hochauflösende Röntgendiffraktometer (XRD), das derzeit auf dem Markt erhältlich ist. Die vielleicht innovativste Funktion ist die neue SmartLab Studio II Software, die dem Benutzer eine intelligente Benutzerführung bietet, die ihn durch die Feinheiten jedes Experiments führt. Es ist, als stünde Ihnen ein Experte zur Seite.
SmartLab Übersicht
Dieses neue Röntgendiffraktometer verfügt über die PhotonMax-Röntgenquelle mit hoher Strahlungsdichte und 9-kW-Drehanode, die in Kombination mit dem HyPix-3000, einem hochauflösenden zweidimensionalen Halbleiterdetektor, der 0D-, 1D- und 2D-Messmodi unterstützt. Dadurch können sämtliche Anwendungen mit einem einzigen Detektor bearbeitet werden, wodurch die umständliche Vorbereitung und das Auswechseln einzelner Detektoren für verschiedene Messaufgaben entfällt. Der HyPix-3000-Detektor kann zur Gewinnung von 2D-Pulverdiffraktionsmustern verwendet werden, die unter Verwendung aller 2D-Informationen eine überlegene qualitative Analyse ermöglichen. Das System verfügt über ein hochauflösendes θ/θ-Goniometer-Antriebssystem mit Closed-Loop-Antrieb und optionalem In-Plane-Diffraktionsarm. Die neue Cross-Beam-Optics (CBO)-Familie bietet eine vollautomatische umschaltbare Reflexions- und Transmissionsoptik (CBO-Auto).
XRD für Benutzerfreundlichkeit konzipiert
Durch die Kombination eines computergesteuerten Ausrichtungssystems mit einem vollautomatischen optischen System und der Benutzerführungsfunktion in der SmartLab Studio II-Software ist es einfach, zwischen den Hardware-Modi zu wechseln, sodass die Komplexität Ihrer Hardware Ihre Forschung optimal unterstützt statt einzuschränken.
XRD mit neuartiger Funktionalität
Ob Sie mit Dünnschichten, Nanomaterialien, Pulvern oder Flüssigkeiten arbeiten – das SmartLab bietet Ihnen die XRD-Funktionalität, um die gewünschten Messungen durchzuführen, wann immer Sie sie durchführen möchten. Das Gerät akzeptiert Pulver-, Flüssigkeits-, Film- und sogar Textilproben und ermöglicht auch Mapping-Messungen. Mit der neuen Rigaku SmartLab Studio II Software Suite, einer integrierten Softwareplattform, die alle Funktionen von der Messung bis zur Analyse umfasst, können Messungen in situ (auch bekannt als Echtzeitmessungen) durchgeführt werden. Das System verfügt außerdem über robuste Sicherheits- und Validierungsprotokolle, um sicherzustellen, dass jede Technologiekomponente – Software oder Hardware – ihren Zweck innerhalb der regulatorischen Richtlinien erfüllt, einschließlich 21 CFR Part 11, der die US-amerikanischen EDA-Vorschriften für elektronische Aufzeichnungen und elektronische Signaturen (ER/ES) festlegt.
SmartLab Eigenschaften
Hochauflösende Mikrobereichs-CBO-μ
SmartLab Videos
SmartLab Spezifikationen
| Technik | Röntgendiffraktion (XRD) | |
|---|---|---|
| Nutzen | Pulverdiffraktometrie, Dünnschichten, SAXS, In-Plane-Scattering, Operando-Messungen | |
| Technologie | Automatisiertes, hochauflösendes θ-θ-Mehrzweck-Röntgendiffraktometer (XRD) mit Expertensystem-Steuerungssoftware | |
| Attribute | 3 kW versiegelte Röntgenröhre CBO-Optik D/teX Ultra 250 Siliziumstreifendetektor |
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| Optionen | PhotonMax-Hochfluss-Röntgenquelle mit 9 kW Drehanode In-Ebene-Arm (5-Achsen-Goniometer) HyPix-3000 2D-HPAD-Detektor mit hoher Energieauflösung Johansson Kα₁-Optik |
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| Computer | Externer PC, MS Windows OS, SmartLab Studio II Software | |
| Abmessungen | 1300 (B) x 1880 (H) x 1300 (T) mm | |
| Masse | Ca. 750 kg (versiegelte Röhre) 850 kg (Drehanode) |
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| Leistungsanforderungen | 1Ø, 200-230 V 50/60 Hz, 40 A oder 3Ø, 200 V 50/60 Hz, 30 A (versiegelte Röhre) 3Ø, 200 V 50/60 Hz, 60 A (Drehanode) |
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SmartLab Optionen
Folgendes Zubehör ist für dieses Produkt verfügbar:
SmartLab Application Notes
Die folgenden Application Notes sind für dieses Produkt relevant
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XRD2001 - Orientation and Residual Stress Evaluation in Metal Thin Films
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BATT1018 - XRD Measurement with Temperature Control and Charge/Discharge Using Laminated Cells
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BATT1017 - XRD Measurement during Charge/Discharge Using All-Solid-State Batteries
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BATT1016 - XRD Measurement During Charge/Discharge Using Laminated Cell Batteries
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BATT1015 - Local Structure Analysis of Li₃PS₄ Solid-State Electrolyte
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BATT1012 - Inference of Valence and Li Ion Diffusion Path Using the BVS Method
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BATT1011 - Measurement of Cathode Material NCM Using XSPA-400 ER High-Energy Resolution Detector
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BATT1010 - Investigation of Phase Transition Behavior upon Cathode Material NCM Firing
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PHRM0002 - In-Situ DSC-Humidity PXRD Analysis for Pharmaceuticals
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BATT0003 - Battery Performance
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BATT0002 - Battery Material Characterization
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BATT0001 - Battery Material Development
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B-XRD1143 - Verifying the Validity of Crystallite Sizes Determined by the FP Method
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B-XRD1129 - Variable Humidity Measurement of a Drug Substance using XRD-DSC and a Humidity Controller
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B-XRD2034 - Twist Width Evaluation of Group III-V Nitride Films by Rocking Curve Measurement
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B-XRD1109 - Structure Determination of Ferroelectric Nano-powder by PDF Analysis
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B-XRD1131 - Structural Characterization of Zeolite by PDF Analysis
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B-XRD1136 - Structural Characterization of Zeolite by Electron Density Analysis
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B-XRD1112 - Structural Analysis of Amorphous Silica by PDF Analysis
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B-XRD1123 - Simultaneous Operando XRD Measurement for Positive and Negative Electrode Materials
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B-XRD1080 - Rietveld Analysis of Battery Material using a Mo Source
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B-XRD1118 - Quick Pole Figure Measurement of a Metal Material using 2DD
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B-XRD1119 - Quantitative Characterization of Polymer film by Orientation Function
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B-XRD1120 - Quantitative Analysis of Pharmaceutical Polymorphic Forms via the DD Method
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B-XRD1115 - Quantitative Analysis of γ-Al₂O₃ by the DD Method
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B-XRD1132 - Quantitative Analysis of Glass with the DD Method
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B-XRD1142 - Quantitative Analysis of Crystal Polymorphs by the DD Method
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B-XRD1093 - Quantitative Analysis of Amorphous Components in Cement
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B-XRD1001 - Quantitative Analysis of a 4-component Sample
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B-XRD1111 - Quantitative Analysis of 3-component Sample by DD method
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B-XRD1125 - Quantification of the Taste of Salt by DD (Direct Derivation) Method
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B-XRD1146 - Quantification of Blast Furnace Slag by Rietveld Refinement using Reference Intensity Ratio
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B-XRD1002 - Quantification of a 4-component Sample using RIR method
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B-XRD1043 - Powder Crystal Structure of Organic Crystals
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B-XRD1121 - Phase Identification of Mixed Powder by Real-time Analysis
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B-XRD2023 - Phase Identification of an Organic Thin Film by GIWAXS Measurement with a 2D detector
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B-XRD1103 - Phase Identification of a Coarse-grained Trace Component in a Mineral Powder using 2D XRD
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B-XRD2020 - Phase ID and Orientation Analysis for Thin Film SOFC Material using 2DD
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B-XRD1137 - Phase ID Analysis of Micro-impurities on the Surface of a Tablet by Micro-area XRD Measurements
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B-XRD1021 - Phase Changes of Pharmaceuticals as a Function of Temperature and Humidity
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B-XRD1110 - Particle Size Distribution Analysis of Ferroelectric Nanopowder by USAXS
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B-XRD1102 - Particle Size / Distribution of Pigment Ink by USAXS
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B-XRD1030 - Particle Diameter Distribution of Gold Nanoparticles
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B-XRD2009 - Orientation Analysis of Organic Thin Film on Single Crystal Sub by In-plane XRD
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B-XRD2005 - Orientation Analysis of Organic Thin Film on Rubbed Glass by In-plane XRD
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B-XRD1124 - Operando Transmission XRD Measurement of All-solid-state Lithium-ion Battery using Ag Source
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B-XRD1116 - Operando Measurement of Laminated Lithium-ion Battery using 2DD
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B-XRD2028 - Off-normal Fiber Texture Analysis by Pole Figure Measurement
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B-XRD2032 - Observation of Orientation State of Polypropylene Film Products by 2D-GIWAXS Measurement
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B-XRD1020 - Observation of Dehydration Process of Hydrate by XRD-DSC
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B-XRD1128 - Observation of Dehydration Behavior of a Drug Substance using TG-DTA and XRD-DSC
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B-XRD1026 - Observation of Crystallization Behavior of Ionic Liquids by XRD-DSC
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B-XRD1135 - Observation of Butter Crystal by Simultaneous XRD-DSC Measurement
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B-XRD1117 - Observation of a Phase Transition at High Temperature under Various Atmospheres
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B-XRD1089 - Micro-area Mapping Measurement of Printed Circuit Boards
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B-XRD1023 - Measurement of Pseudo-polymorph Impurities in Tablets
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B-XRD1063 - Measurement of a Film Sample
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B-XRD1107 - Material Characterization by PDF and RDF Analysis
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B-XRD2003 - Magnetic Recording Media (FePt) by In-plane XRD
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B-XRD1114 - LOQ of Trace Impurities in API by the DD Method
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XRD1003 - How to Evaluate Solid Pharmaceutical Drugs (3): Confirming Hydrates
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XRD1002 - How to Evaluate Solid Pharmaceutical Drugs (2): Confirming the Presence/absence of Amorphous Substances
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XRD1001 - How to Evaluate Solid Pharmaceutical Drugs (1): Confirming the crystal form of an API
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B-XRD1105 - High-speed in-situ Measurement of Melting Process of Metal
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B-XRD1147 - High-precision Quantitative Analysis of Clinker Mineral Polymorphs by Rietveld Refinement
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B-XRD2021 - High-speed RSM of an Epitaxial Film by 1D Detection Mode
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B-XRD2024 - High-speed RSM of a III-nitride Epitaxial Film by 1D Detection Mode
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B-XRD2007 - Examination for Growth Process of Organic Thin Film by In-plane XRD
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B-XRD2030 - Evaluation of Uniformity of Thin Film Thickness by X-ray Reflectivity Mapping
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B-XRD2027 - Evaluation of Uniformity of a Single CrystalSubstrate by Rocking Curve Measurement
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B-XRD1122 - Evaluation of the Crystallinity of a Carious Tooth using X-ray Diffraction
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B-XRD3005 - Evaluation of Residual Stress of Thin Films by GI-XRD and the Multiple hkl Method
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B-XRD1113 - Evaluation of Oxidation State by the BVS Method
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B-XRD1150 - Evaluation of Graphitization Degree of Lithium-ion Battery Carbon Anode Material by X-ray Diffractometry
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B-XRD1104 - Evaluation of Grain Condition and Orientation of Cemented carbide using 2D XRD
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B-XRD2031 - Evaluation of Curvature of a Single Crystal Substrate by Rocking Curve Measurement
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B-XRD1078 - Evaluation of Crystallite Size and Pore Size distribution of Fuel Cell Materials
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B-XRD2001 - Evaluation of Crystal Quality (Tilt and Twist Qidths) of Group-III Nitride Film by the Rocking Curve Method
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B-XRD1149 - Evaluation of Barium Titanate Polymorphs by Rietveld Analysis
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B-XRD1108 - Direct Observation of Melting and Crystallization of Fresh Cream
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B-XRD1126 - Crystallization of Chocolate Observed by XRD-DSC
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B-XRD1018 - Crystallite Size Distribution of Zinc Oxide Nanoparticles
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B-XRD1071 - Crystallite Size Analysis of a Catalyst Material by the Scherrer Method
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B-XRD1035 - Crystal Structure Analysis of a Powder Sample of Pharmaceutical Cocrystals by the Rietveld Method
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B-XRD1046 - Crystal Phase Identification of Pharmaceutical Materials in the Freeze Drying Process
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B-XRD1044 - Crystal Phase Identification of Carbide Tips by Micro-area 2D X-ray Diffraction
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B-XRD2006 - Crystal Orientation Evaluation of Epitaxial Film and Ultrathin Buffer Layers by In-plane Reciprocal Space Mapping
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B-XRD1014 - Crystal Orientation Analysis of Rolled Sheet Material by Pole Figure Measurement
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B-XRD2022 - Crystal Defect Analysis by X-ray Reflection Topography
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B-XRD1009 - Charging-discharging of Cathode Materials in Li-ion Batteries
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B-XRD1106 - Charge/discharge Process of Li-ion Battery Positive Electrode
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B-XRD1139 - Calculation of Molecular Stacking Spacing of Copper Phthalocyanine using PDF Analysis
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B-XRD2025 - Analysis of Uniaxially Oriented Film by Wide-range RSM
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B-XRD2026 - Analysis of Epitaxial Films on In-plane Anisotropic Substrates by Wide-Range RSM
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B-XRD1141 - Accurate and Highly Precise Quantitative Analysis of Cement Samples using Rietveld Refinement
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B-XRD1140 - Accurate and Highly Precise Quantitative Analysis of Cement Samples using Rietveld Refinement
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B-XRD1011 - Temperature Dependence of a Lattice Constant
SmartLab Ressourcen
Webinare
| X-ray Diffraction Measurements for Battery Research | Aufzeichnung ansehen |
| Pair Distribution Function (PDF) Analysis for Everyday Battery Analysis | Aufzeichnung ansehen |
| How to Run in Operando XRD Experiments | Aufzeichnung ansehen |
| Total Diffraction and Amorphous Material Characterization | Aufzeichnung ansehen |
| When to Use XRD and How to Set Up Experiments for Li-ion Battery Research | Aufzeichnung ansehen |
| Simultaneous XRD-DSC – The sum Is Much Greater than the Parts | Aufzeichnung ansehen |
| Component Analysis and Standardless Quantitative Analysis for Pharmaceutical Applications | Aufzeichnung ansehen |
| In-Depth Overview of the Use of X-ray Diffraction (XRD) in the Investigation of Asbestos and Respirable Silica | Aufzeichnung ansehen |
| Smartlab XRD Solution for Semiconductor Materials | Aufzeichnung ansehen |
| Introduction of X-ray Analysis Solutions for Battery Materials | Aufzeichnung ansehen |
| The Use of Atomic Pair Distribution Function Analysis to Verify Molecular Structure for Amorphous and Non-Crystalline Systems | Aufzeichnung ansehen |
| Powder X-ray Diffraction (XRD) for Pharmaceuticals | Aufzeichnung ansehen |
| Dissolution Rate Enchancement of Poorly Water Soluble Drugs - Role in XRPD in the Pharmaceutical Formaulation Development | Aufzeichnung ansehen |
| Combined XRD-DSC for Pharmaceuticals | Aufzeichnung ansehen |
| The Application of Chemometric and Statistical Analysis Techniques for X-ray Diffraction Data: Quantitative Analysis and Lot Release | Aufzeichnung ansehen |
| Introduction of Part 11 Compliant Features in SmartLab Studio II | Aufzeichnung ansehen |
| On the Diffraction Line Profiles in the Rietveld Method | Aufzeichnung ansehen |
Rigaku Journal Artikel
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SPIE Advanced Lithography + Patterning22. Februar 2026 - 26. Februar 2026San Jose, CA, USA
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13th European NESY Winterschool22. Februar 2026 - 27. Februar 2026Bad Aussee, Austria
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Florida Semiconductor Summit23. Februar 2026 - 25. Februar 2026Orlando, FL, USA
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37. Deutsche Zeolith-Tagung in Stuttgart25. Februar 2026 - 27. Februar 2026Stuttgart, Germany
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Rigaku UK User Meeting 20264. März 2026 - 5. März 2026Oxfordshire, UK
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Pittcon 20269. März 2026 - 11. März 2026San Antonio, TX, USA
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The 2026 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics (FCMN) Platinum Sponsors16. März 2026 - 19. März 2026Monterey, CA ,USA
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APS 202616. März 2026 - 20. März 2026Denver, CO, USA
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ACS Spring 202622. März 2026 - 26. März 2026Atlanta, GA, USA
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International Battery 202623. März 2026 - 26. März 2026Orlando, FL, USA
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Analytica24. März 2026 - 27. März 2026Munich, Germany
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SEMICON China 202625. März 2026 - 27. März 2026SNIEC, Shanghai, China
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Rigaku Taiwan professional training courses (XRD)27. März 2026 - 27. März 2026Rigaku Taiwan (RTC-TW)
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BCA Spring Meeting 202630. März 2026 - 1. April 2026Leeds, United Kingdom
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ASMC – Advanced Semiconductor Manufacturing Conference11. Mai 2026 - 14. Mai 2026Albany, NY, USA
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ICDD Summer School 20261. Juni 2026 - 5. Juni 2026Newton Square, PA
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Physics of Magnetism 202622. Juni 2026 - 26. Juni 2026Poznan, Poland
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International workhop on Gallium Oxide 20262. August 2026 - 8. August 2026College Park, MD
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12th Pacific Rim International Conference on Advanced Materials and Processing (PRICM12)9. August 2026 - 13. August 2026Gold Coast Queensland, Australia
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ACS Fall 202623. August 2026 - 27. August 2026Chicago, IL, USA
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SEMICON Taiwan 20262. September 2026 - 4. September 2026Taipei, Taiwan
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ICSCRM Japan 2026 (Silver Sponsor)27. September 2026 - 2. Oktober 2026Yokohama, Japan
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MS&T 20264. Oktober 2026 - 7. Oktober 2026Pittsburgh, PA, USA
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GSA 202611. Oktober 2026 - 14. Oktober 2026Denver, CO, USA
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Battery Show 202612. Oktober 2026 - 15. Oktober 2026Detroit, MI, USA
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SEMICON West 202613. Oktober 2026 - 15. Oktober 2026San Francisco, CA, USA
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Gulf Coast Conference (GCC) 202613. Oktober 2026 - 15. Oktober 2026Galveston, TX, USA
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AAPS PharmSci 360 - 202625. Oktober 2026 - 28. Oktober 2026New Orleans, LA, USA
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SERMACS 20264. November 2026 - 7. November 2026Memphis, TN, USA
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SEMICON Europa10. November 2026 - 13. November 2026Munich, Germany
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Eastern Analytical Symposium (EAS) 202616. November 2026 - 18. November 2026New Jersey
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MRS Fall 202629. November 2026 - 4. Dezember 2026Boston, MA, USA
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Advanced Automotive Battery Conf 20268. Dezember 2026 - 11. Dezember 2026Las Vegas, NV, USA
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SEMICON Japan 20269. Dezember 2026 - 11. Dezember 2026Tokyo, Japan
SmartLab Trainings
Bevorstehende Schulungen
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TitleDatesCostLocationNotesCourse outlineRegistration form
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SmartLab training (EMEA)8. März 2026 - 12. März 2026Please contact ECOE@rigaku.comNeu-Isenburg, GermanySmartLab training (EMEA)
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SmartLab training (EMEA)28. Juni 2026 - 2. Juli 2026Please contact ECOE@rigaku.comNeu-Isenburg, GermanySmartLab training (EMEA)
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SmartLab training (EMEA)18. Oktober 2026 - 22. Oktober 2026Please contact ECOE@rigaku.comNeu-Isenburg, GermanySmartLab training (EMEA)
SmartLab
Testimonials
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I'd strongly recommend the system: it truly is easy to get to grips with, even for a non-specialist. The software guidance and simple hardware fittings are a game-changer for hands-on use.
Read the full testimonialJoseph WrightUniversity of East Anglia -
Big advantage of SmartLab is in simple and rapid change between individual diffractometer configurations followed by automated and reliable optics and sample alignments. This possibility together with high photon flux of rotating anode source significantly increased the throughput of our laboratory, increased the number of measured samples together with the high quality of measured data.
Read the full testimonialMilan DopitaCharles University -
The big advantages of the instrument are especially the in-plane arm, allowing for non-coplanar X-ray diffraction measurements without tilting the sample, and easy procedures for X-ray optics exchange and realignment.
Read the full testimonialOndřej CahaMasarykova univerzita
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