MiniFlex
Tischgerät für Pulver-Röntgendiffraktometrie (XRD)
Qualitative und quantitative Phasenanalyse von polykristallinen Materialien
Das Tisch-Röntgendiffraktometer MiniFlex ist ein vielseitiges Analysegerät für die Pulverdiffraktometrie, mit dem sich folgende Parameter bestimmen lassen: Identifizierung und Quantifizierung kristalliner Phasen, prozentuale Kristallinität, Kristallitgröße und -verzerrung, Verfeinerung der Gitterparameter, Rietveld-Analyse und Molekülstruktur. Es wird häufig in der Forschung, insbesondere in der Materialwissenschaft und Chemie, sowie in der Industrie für Forschung und Qualitätskontrolle eingesetzt. Es ist das neueste Mitglied der MiniFlex-Serie von Tisch-Röntgendiffraktometern von Rigaku, die vor Jahrzehnten mit der Einführung des ursprünglichen MiniFlex XRD-Systems begann.
MiniFlex Übersicht
Pulver-Röntgendiffraktometer mit HPAD-Detektor
Das MiniFlex XRD-System bietet Geschwindigkeit und Empfindlichkeit durch innovative technologische Fortschritte, darunter den HyPix-400 MF 2D-Hybrid-Pixelarray-Detektor (HPAD) in Verbindung mit einer 600-W-Röntgenquelle und einem neuen automatischen Probenwechsler mit 8 Positionen.
Hybrid-Pixel-Array-Detektor (HPAD)
Dieser neue Detektor zur direkten Photonenzählung ermöglicht eine schnelle und rauscharme Datenerfassung und kann im 0D- und 1D-Modus für herkömmliche XRD-Analysen sowie im 2D-Modus für Proben mit grober Korngröße und/oder bevorzugter Orientierung betrieben werden.
XRD-Zubehör erweitert die Möglichkeiten Ihres MiniFlex
Eine Vielzahl von Röntgenröhrenanoden – zusammen mit einer Reihe von Zubehörteilen für die Probenrotation und -positionierung sowie verschiedenen Temperaturvorrichtungen – sorgen dafür, dass das MiniFlex-Röntgendiffraktometer (XRD) vielseitig genug ist, um anspruchsvolle qualitative und quantitative Analysen einer Vielzahl von Proben durchzuführen, sei es in der Forschung oder in der routinemäßigen Qualitätskontrolle. Das neue (Gen 6) MiniFlex-Röntgendiffraktometer verkörpert die Rigaku-Philosophie „Leading with Innovation“ und bietet das weltweit fortschrittlichste Tischsystem für die Pulverdiffraktometrie.
Nahtloser Pixelarray-Röntgendetektor
Der XSPA-200 ER ist ein kompakter multidimensionaler Pixeldetektor für das MiniFlex. Der wichtigste Unterschied zwischen dem XSPA-200 ER und dem herkömmlichen Detektor für MiniFlex ist seine hohe Energieauflösung. Mit dem XSPA-200 ER gemessene Röntgendiffraktionsmuster weisen eine geringe Hintergrundintensität auf, da der Detektor fluoreszierende Röntgenstrahlen aus der Probe unterscheidet. Mit dem XSPA-200 ER erzielt das MiniFlex eine höhere Qualität der Messdaten.
Fortschrittliche Software für die Pulverdiffraktometrie
Jedes MiniFlex wird standardmäßig mit der neuesten Version von SmartLab Studio II geliefert, dem voll funktionsfähigen Pulverdiffraktionsanalysepaket von Rigaku. Die neueste Version bietet wichtige neue Funktionen, darunter eine Fundamentalparameter-Methode (FP) für eine genauere Peakberechnung, Phasenidentifizierung mithilfe der Crystallography Open Database (COD) und einen Assistenten für die ab initio-Kristallstrukturanalyse.
Geschichte des MiniFlex Röntgendiffraktometers
Das Rigaku MiniFlex-Röntgendiffraktometer (XRD) ist von historischer Bedeutung, da es das erste kommerzielle Tischgerät (Tischgerät oder Desktop-Gerät) für die Röntgendiffraktometrie war. Bei seiner Einführung im Jahr 1973 war das ursprüngliche Miniflex™-Tischgerät etwa zehnmal kleiner und deutlich kostengünstiger als herkömmliche Röntgendiffraktionsgeräte (XRD) dieser Zeit. Das ursprüngliche Gerät (Gen 1) und sein 1976 eingeführtes Nachfolgemodell (Gen 2) verwendeten einen horizontalen Goniometer mit Datenausgabe über einen internen Streifenschreiber. Das 1995 eingeführte Tischdiffraktometer der dritten Generation (Gen 3) wurde Miniflex+ genannt. Es bot eine dramatische Steigerung der Röntgenleistung auf 450 Watt (bei 30 kV und 15 mA) und eine Steuerung über einen Windows®-PC. Sowohl das Miniflex+ als auch die nachfolgenden Generationen von Tischdiffraktometern verwenden ein vertikales Goniometer und ermöglichen den Einsatz eines automatischen Probenwechslers. Die vierte Generation (Gen 4) des Tisch-Röntgendiffraktometers Miniflex II wurde 2006 eingeführt und bot den Fortschritt einer monochromatischen Röntgenquelle und eines D/teX Ultra 1D-Siliziumstreifendetektors. Die fünfte Generation (Gen 5) des Desktop-Röntgendiffraktometers MiniFlex600, die 2012 eingeführt wurde, baut auf diesem Erbe auf und bietet eine Leistung von 600 W sowie eine neue Pulverdiffraktionssoftware.
MiniFlex Eigenschaften
MiniFlex Videos
MiniFlex Spezifikationen
| Technik | Röntgendiffraktion (XRD) | |
|---|---|---|
| Nutzen | Phasenanalyse von polykristallinen Materialien | |
| Technologie | Benchtop-Röntgendiffraktometer mit fortschrittlichem Detektor | |
| Attribute | 600 W Röntgenröhre, D/teX Ultra Siliziumstreifendetektor, akzeptiert ungewöhnliche Proben, Tischgerät | |
| Optionen | 8-Positionen-Autosampler HyPix-400 MF (2D-HPAD-) Detektor Graphit-Monochromator Luftempfindlicher Probenhalter ShapeFlex-Probenhalter |
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| Computer | Externer PC, MS Windows OS, SmartLab Studio-II Software | |
| Abmessungen | 620 (B) x 722 (H) x 460 (T) mm | |
| Masse | 80 kg (Kernelement) | |
| Leistungsanforderungen | 1Ø, 100-240 V 50/60 Hz | |
MiniFlex Application Notes
Die folgenden Application Notes sind für dieses Produkt relevant
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XRD1014 - Ab-initio Crystal Structure Determination of a Cu-MOF Using Powder Diffraction Data Obtained from a Benchtop X-ray Diffractometer
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BATT1014 - Measurement of Li₇P₃S₁₁ Solid-State Electrolyte Using Airtight Sample Holder
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BATT1013 - Crystallite Diameter and Particle Diameter Calculation for Silicon Negative Electrode Material
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BATT0001 - Battery Material Development
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B-XRD1143 - Verifying the Validity of Crystallite Sizes Determined by the FP Method
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B-XRD1076 - Rietveld Quantitative Analysis of Trace Components in Cement
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B-XRD1081 - Quantitative Analysis of Polymorphic Impurities in a Drug Substance by the Calibration Method
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B-XRD1142 - Quantitative Analysis of Crystal Polymorphs by the DD Method
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B-XRD1093 - Quantitative Analysis of Amorphous Components in Cement
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B-XRD1001 - Quantitative Analysis of a 4-component Sample
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B-XRD1111 - Quantitative Analysis of 3-component Sample by DD method
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B-XRD1146 - Quantification of Blast Furnace Slag by Rietveld Refinement using Reference Intensity Ratio
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B-XRD1002 - Quantification of a 4-component Sample using RIR method
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B-XRD1133 - Observation of Phase Transition Behavior of Pharmaceutical Materials with a Benchtop XRD System
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B-XRD1060 - MiniFlex Measurement of Trace Samples
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B-XRD1063 - Measurement of a Film Sample
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XRD1003 - How to Evaluate Solid Pharmaceutical Drugs (3): Confirming Hydrates
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XRD1002 - How to Evaluate Solid Pharmaceutical Drugs (2): Confirming the Presence/absence of Amorphous Substances
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XRD1001 - How to Evaluate Solid Pharmaceutical Drugs (1): Confirming the crystal form of an API
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B-XRD1101 - High-T analysis - MiniFlex with HyPix-400 MF / BTS 500
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B-XRD1147 - High-precision Quantitative Analysis of Clinker Mineral Polymorphs by Rietveld Refinement
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B-XRD1150 - Evaluation of Graphitization Degree of Lithium-ion Battery Carbon Anode Material by X-ray Diffractometry
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B-XRD1149 - Evaluation of Barium Titanate Polymorphs by Rietveld Analysis
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B-XRD1072 - Crystallite Size Analysis Analysis of a Microvolume of Metallic Nanoparticles with a Benchtop X-ray Diffractometer
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B-XRD1071 - Crystallite Size Analysis of a Catalyst Material by the Scherrer Method
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B-XRD1127 - Background Reduction for Iron Oxide with CuKα X-rays using XRF Mode
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B-XRD1140 - Accurate and Highly Precise Quantitative Analysis of Cement Samples using Rietveld Refinement
MiniFlex Ressourcen
MiniFlex Office Hour
| A monthly LinkedIn Live session where we’ll answer your questions about the MiniFlex X-ray diffractometer | Mehr erfahren |
Webinare
| X-ray Diffraction Measurements for Battery Research | Aufzeichnung ansehen |
| Component Analysis and Standardless Quantitative Analysis for Pharmaceutical Applications | Aufzeichnung ansehen |
| In-Depth Overview of the Use of X-ray Diffraction (XRD) in the Investigation of Asbestos and Respirable Silica | Aufzeichnung ansehen |
| Analytical Tools for the Cement Industry: Backup with Powerful Benchtop X-ray Fluorescence Spectrometer and X-ray Diffractometer | Aufzeichnung ansehen |
| Powder X-ray Diffraction (XRD) for Pharmaceuticals | Aufzeichnung ansehen |
| Dissolution Rate Enchancement of Poorly Water Soluble Drugs - Role in XRPD in the Pharmaceutical Formaulation Development | Aufzeichnung ansehen |
| The Application of Chemometric and Statistical Analysis Techniques for X-ray Diffraction Data: Quantitative Analysis and Lot Release | Aufzeichnung ansehen |
| Introduction of Part 11 Compliant Features in SmartLab Studio II | Aufzeichnung ansehen |
| On the Diffraction Line Profiles in the Rietveld Method | Aufzeichnung ansehen |
| Quantitative Phase Analysis Based on Rietveld Method for Data Collected on Miniflex600 | Aufzeichnung ansehen |
Rigaku Journal Artikel
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34th Annual Meeting of the German Crystallographic Society (DGK)25. Februar 2026 - 28. Februar 2026Lübeck, Germany
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37. Deutsche Zeolith-Tagung in Stuttgart25. Februar 2026 - 27. Februar 2026Stuttgart, Germany
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DKT 20263. März 2026 - 6. März 2026Karlsruhe, Germany
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Rigaku UK User Meeting 20264. März 2026 - 5. März 2026Oxfordshire, UK
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Pittcon 20269. März 2026 - 11. März 2026San Antonio, TX, USA
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HäKo 202611. März 2026 - 13. März 2026Bonn, Germany
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APS 202616. März 2026 - 20. März 2026Denver, CO, USA
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ACS Spring 202622. März 2026 - 26. März 2026Atlanta, GA, USA
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International Battery 202623. März 2026 - 26. März 2026Orlando, FL, USA
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Analytica24. März 2026 - 27. März 2026Munich, Germany
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Rigaku Taiwan professional training courses (XRD)27. März 2026 - 27. März 2026Rigaku Taiwan (RTC-TW)
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COPS XII - 12th International Symposium on the Characterization of Porus Solids4. Mai 2026 - 6. Mai 2026Dresden, Germany
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Canadian Chemistry Conf 202624. Mai 2026 - 28. Mai 2026Toronto, ON, Canada
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WOCSDICE/EXMATEC 202624. Mai 2026 - 28. Mai 2026Gdańsk, Poland
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E-MRS 2026 Spring Meeting25. Mai 2026 - 29. Mai 2026Strasbourg, France
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ICDD Summer School 20261. Juni 2026 - 5. Juni 2026Newton Square, PA
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ACA Summer School 20267. Juni 2026 - 14. Juni 2026West Lafayette, IN, USA
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PorMat 20269. Juni 2026 - 10. Juni 2026Bristol, UK
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Physics of Magnetism 202622. Juni 2026 - 26. Juni 2026Poznan, Poland
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DSL-2026 Conference22. Juni 2026 - 26. Juni 2026Rhodes, Greece
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EPDIC 1923. Juni 2026 - 26. Juni 2026Crans Montana, Switzerland
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Mineralogical Society at 150: Past Discoveries and Future Frontiers23. Juni 2026 - 25. Juni 2026Manchester, UK
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Polish Crystallographic Meeting + Olympic24. Juni 2026 - 26. Juni 2026Wroclaw, Poland
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27th Congress and General Assembly of the IUCr11. August 2026 - 18. August 2026Calgary, Alberta, Canada
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GSA 202611. Oktober 2026 - 14. Oktober 2026Denver, CO, USA
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Gulf Coast Conference (GCC) 202613. Oktober 2026 - 15. Oktober 2026Galveston, TX, USA
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Advanced Automotive Battery Conf 20268. Dezember 2026 - 11. Dezember 2026Las Vegas, NV, USA
MiniFlex Trainings
Bevorstehende Schulungen
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TitleDatesCostLocationNotesCourse outlineRegistration form
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MiniFlex training (USA)9. Februar 2026 - 11. Februar 2026$3,500OnlineWe offer up to 3 days of online training for groups of 2-5 participants, with a maximum capacity of 15 attendees per session. Day 1 covers Basic Hardware Operation and X-Ray Physics. Day 2 addresses Basic Software and Data Analysis. Day 3 explores Advanced XRD Quantitative Methods and Analysis
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MiniFlex training (EMEA)8. März 2026 - 9. März 2026Please contact ECOE@rigaku.comNeu-Isenburg, GermanyMiniFlex training (EMEA)
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MiniFlex training (USA)9. März 2026 - 11. März 2026$3,500OnlineWe offer up to 3 days of online training for groups of 2-5 participants, with a maximum capacity of 15 attendees per session. Day 1 covers Basic Hardware Operation and X-Ray Physics. Day 2 addresses Basic Software and Data Analysis. Day 3 explores Advanced XRD Quantitative Methods and Analysis
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MiniFlex training (USA)6. April 2026 - 8. April 2026$3,500OnlineWe offer up to 3 days of online training for groups of 2-5 participants, with a maximum capacity of 15 attendees per session. Day 1 covers Basic Hardware Operation and X-Ray Physics. Day 2 addresses Basic Software and Data Analysis. Day 3 explores Advanced XRD Quantitative Methods and Analysis
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MiniFlex training (USA)11. Mai 2026 - 13. Mai 2026$3,500OnlineWe offer up to 3 days of online training for groups of 2-5 participants, with a maximum capacity of 15 attendees per session. Day 1 covers Basic Hardware Operation and X-Ray Physics. Day 2 addresses Basic Software and Data Analysis. Day 3 explores Advanced XRD Quantitative Methods and Analysis
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MiniFlex training (EMEA)28. Juni 2026 - 29. Juni 2026Please contact ECOE@rigaku.comNeu-Isenburg, GermanyMiniFlex training (EMEA)
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MiniFlex training (USA)13. Juli 2026 - 15. Juli 2026$3,500OnlineWe offer up to 3 days of online training for groups of 2-5 participants, with a maximum capacity of 15 attendees per session. Day 1 covers Basic Hardware Operation and X-Ray Physics. Day 2 addresses Basic Software and Data Analysis. Day 3 explores Advanced XRD Quantitative Methods and Analysis
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MiniFlex training (USA)10. August 2026 - 12. August 2026$3,500OnlineWe offer up to 3 days of online training for groups of 2-5 participants, with a maximum capacity of 15 attendees per session. Day 1 covers Basic Hardware Operation and X-Ray Physics. Day 2 addresses Basic Software and Data Analysis. Day 3 explores Advanced XRD Quantitative Methods and Analysis
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MiniFlex training (USA)14. September 2026 - 16. September 2026$3,500OnlineWe offer up to 3 days of online training for groups of 2-5 participants, with a maximum capacity of 15 attendees per session. Day 1 covers Basic Hardware Operation and X-Ray Physics. Day 2 addresses Basic Software and Data Analysis. Day 3 explores Advanced XRD Quantitative Methods and Analysis
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MiniFlex training (USA)5. Oktober 2026 - 7. Oktober 2026$3,500OnlineWe offer up to 3 days of online training for groups of 2-5 participants, with a maximum capacity of 15 attendees per session. Day 1 covers Basic Hardware Operation and X-Ray Physics. Day 2 addresses Basic Software and Data Analysis. Day 3 explores Advanced XRD Quantitative Methods and Analysis
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MiniFlex training (EMEA)18. Oktober 2026 - 19. Oktober 2026Please contact ECOE@rigaku.comNeu-Isenburg, GermanyMiniFlex training (EMEA)
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MiniFlex training (USA)9. November 2026 - 11. November 2026$3,500OnlineWe offer up to 3 days of online training for groups of 2-5 participants, with a maximum capacity of 15 attendees per session. Day 1 covers Basic Hardware Operation and X-Ray Physics. Day 2 addresses Basic Software and Data Analysis. Day 3 explores Advanced XRD Quantitative Methods and Analysis
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Read the full testimonialDan LedgerCrystecPharma, UK
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