SmartLab Studio II
Software-Suite für Rigaku-Röntgendiffraktometer
Integriert Benutzerrechte, Messungen, Analysen, Datenvisualisierung und Berichterstellung
SmartLab Studio II ist eine neue Windows-basierte Software-Suite, die für das Flaggschiff Rigaku SmartLab Röntgendiffraktometer entwickelt wurde und Benutzerrechte, Messungen, Analysen, Datenvisualisierung und Berichterstellung integriert. Die modulare (Plugin-)Architektur dieser Software, die nun auch für das MiniFlex verfügbar ist, ietet modernste Interoperabilität zwischen den Funktionskomponenten.
SmartLab Studio II Übersicht
Professionelle XRD-Ergebnisse. Keine Fachkenntnisse erforderlich.
SmartLab Studio II (SLS II) ist die Automatisierungs-Engine, die das multifunktionale Röntgendiffraktometer SmartLab antreibt. Es verändert die Interaktion mit XRD, indem es Benutzer bei der Auswahl der optimalen Konfiguration, der Ausrichtung der Optik und der Empfehlung der besten Messbedingungen unterstützt.
Mit SLS II müssen Sie sich keine komplizierten Einstellungen merken oder sich um die Ausrichtung des Systems kümmern. Der integrierte Guidance Wizard fragt Sie, was Sie messen möchten, und konfiguriert alles für Sie. Er überprüft die aktuelle Einstellung mithilfe intelligenter Sensoren, schlägt erforderliche Änderungen vor, richtet die Optik und die Probe automatisch aus und beginnt mit der Erfassung hochwertiger Daten – alles mit minimalem Aufwand.
SLS II vereint automatische Ausrichtung, geführte Einrichtung und fortschrittliche Datenvisualisierung in einer einzigen Plattform. Es ist der Schlüssel zu einer schnelleren, einfacheren und zugänglicheren XRD für alle Benutzer in Ihrem Labor.
Beobachten Sie Echtzeit-Scans aus einem Experiment und analysieren Sie gleichzeitig andere Daten auf demselben Desktop. Mit nur einem Klick wechseln Sie von der Messung zu den SLS II-Analysemodulen mit einer einfachen Flow-Bar-Oberfläche, die Sie durch den Analyse- und Berichtsprozess führt. Es steht eine Vielzahl von Anwendungen zur Verfügung, darunter Phasenidentifizierung, Reflektivität, Eigenspannung, reziproke Raumkartierung, Kristallitgrößenanalyse, Gitterkonstantenverfeinerung, Rietveld-Analyse, Ab-initio-Strukturbestimmung, In-situ- oder Operando-Analysen und Clusterdatenanalysen. Die umfassenden Datenvisualisierungstools vereinfachen sowohl die Datenanalyse als auch die Berichterstellung.
Ankündigung: Messungen der Totalstreuung und PDF-Analyse
Das SmartLab Studio II PDF-Plugin wurde um die Option „Reverse Monte Carlo“ (RMC) erweitert. Damit stehen nun detaillierte Informationen zu Totalstreuungsmessungen und PDF-Analysen auf einer Webseite zur Verfügung. Weitere Informationen finden Sie unter folgendem Link: Total Scattering Measurements and PDF Analysis
SmartLab Studio II Eigenschaften
SmartLab Studio II Videos
SmartLab Studio II Optionen
Folgendes Zubehör ist für dieses Produkt verfügbar:
AI Plugin – Phasenidentifizierung
Dieses Modul kann Ihre Produktivität steigern, wenn Sie häufig ähnliche Proben analysieren, aber Schwierigkeiten haben, Nebenphasen wie Verunreinigungen, Fremdstoffe usw. zu identifizieren.
AI-Plugin – XRD Komponenten-Dekomposition
Dieses KI-gestützte Modul kann ein Röntgendiffraktionsmuster (XRD) einer unbekannten Mischung in mehrere Komponenten aufteilen und jede Phase quantifizieren.
AI-Plugin – Röntgenreflexionsanalyse
Dieses KI-gestützte Modul kann Ihnen Vorschläge zur Anpassung Ihres Simulationsmodells unterbreiten, um die Qualität und Genauigkeit der Röntgenreflektanzanalyse (XRR) zu verbessern.
PDF Analyse
Die PDF kann aus Streumustern Informationen über interatomare Abstände und Koordinationszahlen extrahieren, unabhängig von der Kristallinität des Materials.
RMC Methode
Die RMC-Methode liefert reale Rauminformationen wie folgt: überarbeiteter Strukturmodus, Teilkorrelationshistogramm, Winkelhistogramm.
Messung der Totalstreuung
Die Totalstreuungsmessung verwendet für die Analyse nicht nur Diffraktionspeaks, sondern auch diffuse Streuung, die bei der Pulver-Röntgendiffraktionsmessung als Hintergrund behandelt wird .
Messung und PDF Plugin
Integriertes Softwarepaket für die Röntgenanalyse, von der Messung bis zur Auswertung
XRR Plugin
Röntgen-Reflexionsanalyse-Software für eine Vielzahl von Anwendungen, von der einfachen Schichtdickenanalyse bis zur detaillierten Analyse mehrschichtiger Strukturen.
HRXRD Plugin
Ein integriertes Plugin für reziproke Gitterkarten und hochauflösende Rocking-Kurven zur Analyse epitaktischer Schichten
Texture Plugin
Das Textur-Plugin dient zur Analyse der ODF (Orientierungsverteilungsfunktion) aus Polfigurdaten, die mit 0D- oder 2D-Detektoren gemessen wurden.
PDF Plugin
Das PDF-Plugin kann RDF (Radialverteilungsfunktion) und PDF (Paarverteilungsfunktion) mit Fourier-Transformation von S(Ǫ) (Strukturfaktor) berechnen.
Plugin zur Datenvisualisierung
Das Plugin „Datenvisualisierung“ verarbeitet effizient Tausende von Datensätzen, die durch Operando-Messungen wie temperaturgesteuerte Messungen erfasst wurden, und zeigt die Ergebnisse auf leicht verständliche Weise an.
EasyX Plugin
Screening/Plugin für die Qualitätskontrolle, das eine einfache Messung, automatisierte Analyse und Visualisierung der Analyseergebnisse ermöglicht
SmartLab Studio II Application Notes
Die folgenden Application Notes sind für dieses Produkt relevant
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XRD1014 - Ab-initio Crystal Structure Determination of a Cu-MOF Using Powder Diffraction Data Obtained from a Benchtop X-ray Diffractometer
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XRD2001 - Orientation and Residual Stress Evaluation in Metal Thin Films
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PHRM0002 - In-Situ DSC-Humidity PXRD Analysis for Pharmaceuticals
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BATT0003 - Battery Performance
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BATT0002 - Battery Material Characterization
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BATT0001 - Battery Material Development
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B-XRD1143 - Verifying the Validity of Crystallite Sizes Determined by the FP Method
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B-XRD1129 - Variable Humidity Measurement of a Drug Substance using XRD-DSC and a Humidity Controller
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B-XRD1109 - Structure Determination of Ferroelectric Nano-powder by PDF Analysis
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B-XRD1131 - Structural Characterization of Zeolite by PDF Analysis
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B-XRD1136 - Structural Characterization of Zeolite by Electron Density Analysis
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B-XRD1112 - Structural Analysis of Amorphous Silica by PDF Analysis
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B-XRD3001 - Stress Distribution of a Shot Peened Coil Spring
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B-XRD1123 - Simultaneous Operando XRD Measurement for Positive and Negative Electrode Materials
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B-XRD1076 - Rietveld Quantitative Analysis of Trace Components in Cement
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B-XRD1080 - Rietveld Analysis of Battery Material using a Mo Source
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B-XRD1118 - Quick Pole Figure Measurement of a Metal Material using 2DD
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B-XRD1119 - Quantitative Characterization of Polymer film by Orientation Function
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B-XRD1081 - Quantitative Analysis of Polymorphic Impurities in a Drug Substance by the Calibration Method
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B-XRD1120 - Quantitative Analysis of Pharmaceutical Polymorphic Forms via the DD Method
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B-XRD1115 - Quantitative Analysis of γ-Al₂O₃ by the DD Method
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B-XRD1132 - Quantitative Analysis of Glass with the DD Method
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B-XRD1142 - Quantitative Analysis of Crystal Polymorphs by the DD Method
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B-XRD1001 - Quantitative Analysis of a 4-component Sample
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B-XRD1111 - Quantitative Analysis of 3-component Sample by DD method
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B-XRD1125 - Quantification of the Taste of Salt by DD (Direct Derivation) Method
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B-XRD1146 - Quantification of Blast Furnace Slag by Rietveld Refinement using Reference Intensity Ratio
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B-XRD1002 - Quantification of a 4-component Sample using RIR method
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B-XRD1043 - Powder Crystal Structure of Organic Crystals
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B-XRD1121 - Phase Identification of Mixed Powder by Real-time Analysis
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B-XRD2023 - Phase Identification of an Organic Thin Film by GIWAXS Measurement with a 2D detector
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B-XRD1103 - Phase Identification of a Coarse-grained Trace Component in a Mineral Powder using 2D XRD
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B-XRD2020 - Phase ID and Orientation Analysis for Thin Film SOFC Material using 2DD
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B-XRD1137 - Phase ID Analysis of Micro-impurities on the Surface of a Tablet by Micro-area XRD Measurements
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B-XRD1021 - Phase Changes of Pharmaceuticals as a Function of Temperature and Humidity
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B-XRD1110 - Particle Size Distribution Analysis of Ferroelectric Nanopowder by USAXS
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B-XRD1102 - Particle Size / Distribution of Pigment Ink by USAXS
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B-XRD1030 - Particle Diameter Distribution of Gold Nanoparticles
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B-XRD2009 - Orientation Analysis of Organic Thin Film on Single Crystal Sub by In-plane XRD
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B-XRD2028 - Off-normal Fiber Texture Analysis by Pole Figure Measurement
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B-XRD1133 - Observation of Phase Transition Behavior of Pharmaceutical Materials with a Benchtop XRD System
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B-XRD2032 - Observation of Orientation State of Polypropylene Film Products by 2D-GIWAXS Measurement
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B-XRD1020 - Observation of Dehydration Process of Hydrate by XRD-DSC
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B-XRD1128 - Observation of Dehydration Behavior of a Drug Substance using TG-DTA and XRD-DSC
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B-XRD1026 - Observation of Crystallization Behavior of Ionic Liquids by XRD-DSC
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B-XRD1135 - Observation of Butter Crystal by Simultaneous XRD-DSC Measurement
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B-XRD1089 - Micro-area Mapping Measurement of Printed Circuit Boards
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B-XRD1023 - Measurement of Pseudo-polymorph Impurities in Tablets
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B-XRD1063 - Measurement of a Film Sample
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B-XRD1107 - Material Characterization by PDF and RDF Analysis
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B-XRD1114 - LOQ of Trace Impurities in API by the DD Method
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XRD1003 - How to Evaluate Solid Pharmaceutical Drugs (3): Confirming Hydrates
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XRD1001 - How to Evaluate Solid Pharmaceutical Drugs (1): Confirming the crystal form of an API
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B-XRD1105 - High-speed in-situ Measurement of Melting Process of Metal
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B-XRD1147 - High-precision Quantitative Analysis of Clinker Mineral Polymorphs by Rietveld Refinement
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B-XRD2021 - High-speed RSM of an Epitaxial Film by 1D Detection Mode
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B-XRD2024 - High-speed RSM of a III-nitride Epitaxial Film by 1D Detection Mode
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B-XRD2030 - Evaluation of Uniformity of Thin Film Thickness by X-ray Reflectivity Mapping
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B-XRD2027 - Evaluation of Uniformity of a Single CrystalSubstrate by Rocking Curve Measurement
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B-XRD1122 - Evaluation of the Crystallinity of a Carious Tooth using X-ray Diffraction
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B-XRD3005 - Evaluation of Residual Stress of Thin Films by GI-XRD and the Multiple hkl Method
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B-XRD1113 - Evaluation of Oxidation State by the BVS Method
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B-XRD1150 - Evaluation of Graphitization Degree of Lithium-ion Battery Carbon Anode Material by X-ray Diffractometry
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B-XRD1104 - Evaluation of Grain Condition and Orientation of Cemented carbide using 2D XRD
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B-XRD2031 - Evaluation of Curvature of a Single Crystal Substrate by Rocking Curve Measurement
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B-XRD1078 - Evaluation of Crystallite Size and Pore Size distribution of Fuel Cell Materials
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B-XRD1149 - Evaluation of Barium Titanate Polymorphs by Rietveld Analysis
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B-XRD1108 - Direct Observation of Melting and Crystallization of Fresh Cream
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B-XRD1126 - Crystallization of Chocolate Observed by XRD-DSC
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B-XRD1018 - Crystallite Size Distribution of Zinc Oxide Nanoparticles
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B-XRD1072 - Crystallite Size Analysis Analysis of a Microvolume of Metallic Nanoparticles with a Benchtop X-ray Diffractometer
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B-XRD1071 - Crystallite Size Analysis of a Catalyst Material by the Scherrer Method
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B-XRD1035 - Crystal Structure Analysis of a Powder Sample of Pharmaceutical Cocrystals by the Rietveld Method
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B-XRD2006 - Crystal Orientation Evaluation of Epitaxial Film and Ultrathin Buffer Layers by In-plane Reciprocal Space Mapping
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B-XRD1014 - Crystal Orientation Analysis of Rolled Sheet Material by Pole Figure Measurement
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B-XRD2022 - Crystal Defect Analysis by X-ray Reflection Topography
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B-XRD1139 - Calculation of Molecular Stacking Spacing of Copper Phthalocyanine using PDF Analysis
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B-XRD2025 - Analysis of Uniaxially Oriented Film by Wide-range RSM
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B-XRD2026 - Analysis of Epitaxial Films on In-plane Anisotropic Substrates by Wide-Range RSM
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B-XRD1141 - Accurate and Highly Precise Quantitative Analysis of Cement Samples using Rietveld Refinement
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B-XRD1140 - Accurate and Highly Precise Quantitative Analysis of Cement Samples using Rietveld Refinement
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B-XRD1011 - Temperature Dependence of a Lattice Constant
SmartLab Studio II Ressourcen
Webinare
| X-ray Diffraction Measurements for Battery Research | Aufzeichnung ansehen |
| Pair Distribution Function (PDF) Analysis for Everyday Battery Analysis | Aufzeichnung ansehen |
| How to Run in Operando XRD Experiments | Aufzeichnung ansehen |
| When to Use XRD and How to Set Up Experiments for Li-ion Battery Research | Aufzeichnung ansehen |
| Simultaneous XRD-DSC – The sum Is Much Greater than the Parts | Aufzeichnung ansehen |
| Component Analysis and Standardless Quantitative Analysis for Pharmaceutical Applications | Aufzeichnung ansehen |
| In-Depth Overview of the Use of X-ray Diffraction (XRD) in the Investigation of Asbestos and Respirable Silica | Aufzeichnung ansehen |
| Curved Image Plate for Rapid Laboratory-based X-ray Total Scattering Measurements: Applications to PDF Analysis | Aufzeichnung ansehen |
| Powder X-ray Diffraction (XRD) for Pharmaceuticals | Aufzeichnung ansehen |
| Dissolution Rate Enhancement of Poorly Water Soluble Drugs - Role in XRPD in the Pharmaceutical Formaulation Development | Aufzeichnung ansehen |
| Combined XRD-DSC for Pharmaceuticals | Aufzeichnung ansehen |
| Introduction of Part 11 Compliant Features in SmartLab Studio II | Aufzeichnung ansehen |
| On the Diffraction Line Profiles in the Rietveld Method | Aufzeichnung ansehen |
Rigaku Journal Artikel
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Veröffentlichungen
Besuchen Sie die Publikationsbibliothek, um auf Artikel zuzugreifen, die für SmartLab Studio II relevant sind.
SmartLab Studio II Events
Erfahren Sie mehr über unsere Produkte auf diesen Veranstaltungen
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EventDatumOrtEvent-Webseite
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13th European NESY Winterschool22. Februar 2026 - 27. Februar 2026Bad Aussee, Austria
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34th Annual Meeting of the German Crystallographic Society (DGK)25. Februar 2026 - 28. Februar 2026Lübeck, Germany
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37. Deutsche Zeolith-Tagung in Stuttgart25. Februar 2026 - 27. Februar 2026Stuttgart, Germany
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Prospectors & Developers Assoc of Canada 20261. März 2026 - 4. März 2026Toronto, ON, Canada
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DKT 20263. März 2026 - 6. März 2026Karlsruhe, Germany
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Rigaku UK User Meeting 20264. März 2026 - 5. März 2026Oxfordshire, UK
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Pittcon 20269. März 2026 - 11. März 2026San Antonio, TX, USA
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HäKo 202611. März 2026 - 13. März 2026Bonn, Germany
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APS 202616. März 2026 - 20. März 2026Denver, CO, USA
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ACS Spring 202622. März 2026 - 26. März 2026Atlanta, GA, USA
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International Battery 202623. März 2026 - 26. März 2026Orlando, FL, USA
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Analytica24. März 2026 - 27. März 2026Munich, Germany
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Rigaku Taiwan professional training courses (XRD)27. März 2026 - 27. März 2026Rigaku Taiwan (RTC-TW)
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BCA Spring Meeting 202630. März 2026 - 1. April 2026Leeds, United Kingdom
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Chembio Exhibition15. April 2026 - 16. April 2026Helsinki, Finland
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MRS Spring 202626. April 2026 - 1. Mai 2026Hawaii, HI, USA
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COPS XII - 12th International Symposium on the Characterization of Porus Solids4. Mai 2026 - 6. Mai 2026Dresden, Germany
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Metal-Organic Frameworks Workshop 202617. Mai 2026 - 20. Mai 2026New Orleans, LA, USA
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Canadian Chemistry Conf 202624. Mai 2026 - 28. Mai 2026Toronto, ON, Canada
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WOCSDICE/EXMATEC 202624. Mai 2026 - 28. Mai 2026Gdańsk, Poland
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E-MRS 2026 Spring Meeting25. Mai 2026 - 29. Mai 2026Strasbourg, France
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ICDD Summer School 20261. Juni 2026 - 5. Juni 2026Newton Square, PA
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ACA Summer School 20267. Juni 2026 - 14. Juni 2026West Lafayette, IN, USA
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PorMat 20269. Juni 2026 - 10. Juni 2026Bristol, UK
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Physics of Magnetism 202622. Juni 2026 - 26. Juni 2026Poznan, Poland
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DSL-2026 Conference22. Juni 2026 - 26. Juni 2026Rhodes, Greece
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EPDIC 1923. Juni 2026 - 26. Juni 2026Crans Montana, Switzerland
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Mineralogical Society at 150: Past Discoveries and Future Frontiers23. Juni 2026 - 25. Juni 2026Manchester, UK
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Polish Crystallographic Meeting + Olympic24. Juni 2026 - 26. Juni 2026Wroclaw, Poland
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International workhop on Gallium Oxide 20262. August 2026 - 8. August 2026College Park, MD
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Denver X-ray Conference (DXC) 20263. August 2026 - 7. August 2026Lombard, IL, USA
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12th Pacific Rim International Conference on Advanced Materials and Processing (PRICM12)9. August 2026 - 13. August 2026Gold Coast Queensland, Australia
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27th Congress and General Assembly of the IUCr11. August 2026 - 18. August 2026Calgary, Alberta, Canada
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ACS Fall 202623. August 2026 - 27. August 2026Chicago, IL, USA
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MS&T 20264. Oktober 2026 - 7. Oktober 2026Pittsburgh, PA, USA
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GSA 202611. Oktober 2026 - 14. Oktober 2026Denver, CO, USA
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Battery Show 202612. Oktober 2026 - 15. Oktober 2026Detroit, MI, USA
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Gulf Coast Conference (GCC) 202613. Oktober 2026 - 15. Oktober 2026Galveston, TX, USA
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AAPS PharmSci 360 - 202625. Oktober 2026 - 28. Oktober 2026New Orleans, LA, USA
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SERMACS 20264. November 2026 - 7. November 2026Memphis, TN, USA
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Eastern Analytical Symposium (EAS) 202616. November 2026 - 18. November 2026New Jersey
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MRS Fall 202629. November 2026 - 4. Dezember 2026Boston, MA, USA
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Advanced Automotive Battery Conf 20268. Dezember 2026 - 11. Dezember 2026Las Vegas, NV, USA
SmartLab Studio II Trainings
Bevorstehende Schulungen
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TitleDatesCostLocationNotesCourse outlineRegistration form
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SmartLab training (EMEA)8. März 2026 - 12. März 2026Please contact ECOE@rigaku.comNeu-Isenburg, GermanySmartLab training (EMEA)
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SmartLab training (EMEA)28. Juni 2026 - 2. Juli 2026Please contact ECOE@rigaku.comNeu-Isenburg, GermanySmartLab training (EMEA)
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SmartLab training (EMEA)18. Oktober 2026 - 22. Oktober 2026Please contact ECOE@rigaku.comNeu-Isenburg, GermanySmartLab training (EMEA)
SmartLab Studio II
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