基於里特沃爾德精修的XRD分析
里特沃爾德精修由 Hugo Rietveld 發明，目前已被廣泛認可為對幾乎所有無法獲得單晶的晶體材料進行結構分析的極有價值的方法。
這種軟體方法會精修多個參數，包括晶格參數、峰寬與峰形，以及擇優取向，以得到一個依靠計算而得的繞射圖譜。一旦計算得到的圖譜與未知樣品數據幾乎完全一致，就可以獲得與該樣品相關的各種性質，包括精確的定量訊息、晶粒尺寸以及晶位佔據因子。
里特沃爾德精修圖譜的過程計算量大，對多組成份混合樣品進行計算通常需要幾分鐘。與傳統定量方法相比，Rietveld 精修的優勢在於無需標準樣品。
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