Was ist die Rietveld-Analyse?

XRD-Analyse mit Whole-Pattern-Fitting-Verfeinerung

Die von Hugo Rietveld erfundene Whole Pattern Fitting Structure Refinement (Verfeinerung des gesamten Beugungsmusters) gilt heute weithin als außerordentlich wertvolle Methode für die Strukturanalyse fast aller Klassen kristalliner Materialien, die nicht als Einkristalle vorliegen.

Dieser Softwareansatz verfeinert verschiedene Metriken - darunter Gitterparameter, Peakbreite und -form sowie die bevorzugte Orientierung -, um ein berechnetes Beugungsmuster abzuleiten. Sobald das abgeleitete Muster nahezu identisch mit den Daten einer unbekannten Probe ist, können verschiedene Eigenschaften dieser Probe ermittelt werden, darunter genaue quantitative Informationen, Kristallitgröße und Platzbesetzungsfaktoren. Dieser rechenintensive Prozess braucht heutzutage dank fortgeschrittener Computerunterstützung und Softwarelösung nur wenig Augenblicke. Die Rietveld-Analyse hat gegenüber herkömmlichen quantitativen Methoden den Vorteil, dass keine Standards erforderlich sind; zudem ermöglicht sie die simultane Auswertung mehrerer überlappender Phasen, berücksichtigt strukturelle Parameter wie Gitterkonstanten, Mikrospannungen und Kristallitgrößen und nutzt das gesamte Beugungsmuster anstelle einzelner Peaks, was zu einer höheren Genauigkeit und Reproduzierbarkeit der quantitativen Phasenanalyse führt. 

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