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什麼是能量分散式X光螢光(EDXRF)光譜技術?

能量分散式X光螢光(EDXRF)是一種無損分析技術,能夠在從ppm級到高百分比濃度的寬廣範圍內,對多種基體材料實現快速的定性與定量元素分析。作為常見的X光螢光(XRF),EDXRF憑藉其快速、可靠且經濟實惠實惠的元素分析特長,已成為眾多行業的首選技術。EDXRF能夠滿足多樣化的分析需求——從油品與液體的快速檢查,到固體、金屬、聚合物、粉末、漿料、塗層及薄膜的精準分析。該技術不僅經濟實惠,且僅需佔用實驗室或檢測場所的極小空間。

許多行業與機構藉助理學EDXRF儀器解決其分析需求。應用領域涵蓋工業與現場品質保證、研發創新、農業檢測、礦產勘探等諸多領域。Applied Rigaku Technologies憑藉理學創新實力與多年EDXRF技術累積,為用戶提供先進、高品質的EDXRF分析儀,以及以客戶為中心的解決方案與技術支援。

相較於其他技術,EDXRF儀器操作簡便、經濟實惠且高效。其樣品製備流程極為簡化,加之技術本身的無損特性,樣品在分析後完好如初,可繼續用於其他用途。對於眾多行業與應用領域而言,EDXRF無疑是一項卓越選擇。

• EDXRF作為一款無損分析技術,可在多種基體中進行快速多元素分析。
• EDXRF
根據不同應用需求,測量元素範圍可覆蓋從鈉(Na)至鈾(U)。
• EDXRF
系統操作簡便,樣品預先處理需求極低,且初期所需投資成本低。
• EDXRF
應用範圍很廣,涵蓋工業與現場品質保證、研發及眾多其他領域。
• EDXRF
可透過測量元素特徵X光的能量進行精準分析。

EDXRF工作原理

EDXRF是一種基於樣品X光激發的光譜分析技術。X光作為電磁波譜的組成部分,雖與可見光和紫外線同源,卻因具備更高能量而能夠穿透樣品材料。在EDXRF分析過程中,源自X光管的入射X光穿透樣品材料,激發其中元素並產生具有特定能量的特徵X光螢光。

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理學EDXRF光譜儀精準解析元素組成,透過精確計數和測量樣品發射的X光能量實現元素分析。

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當電子由外層軌道向內層軌道躍遷時,這些X光特徵光譜線會在能譜中形成特徵峰。每種元素的不同電子軌道躍遷都會在能譜中對應特定能量位置形成特徵峰。

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EDXRF 技術發展

多年來,X光螢光(XRF)技術已日益成為各類材料的首選分析手段。隨著X光源、光學系統和偵測器技術的持續演進與突破性創新,該技術已發展成為更強大的定量分析方法。

從 20 世紀 50 年代中期推出的商用波長分散式 X光螢光(WDXRF)光譜儀,到70 年代初開發出能量分散式 X光螢光(EDXRF)儀器,設備成本效益的不斷提升對 XRF 技術的推廣普及起到了關鍵推動作用。80 年代中期,隨著個人電腦(PC)作為行業標準平臺的廣泛普及,XRF 技術變得更具可及性,相比早期的原子光譜分析技術展現出更低的持有成本。如今,隨著EDXRF技術的最新進展, EDXRF光譜儀在分析靈敏度與操作便捷性方面實現了全新突破。

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延伸閱讀:X光螢光光譜技術

自 Glocker 和 Schreiber 於 1928 年首次提出利用初級X光束激發樣品的螢光X光以來,X光螢光光譜技術在儀器、軟體和樣品製備等方面已形成完整的知識體系。以下精選文獻為XRF實際應用,並提供系統性指引:

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