什麼是 X光繞射？
X光繞射（XRD）是分析各種非晶、粉末及晶體材料最重要的無損分析手段之一。從科學研究到生產與工程應用，XRD 都是材料表徵和品質控制中不可或缺的方法。Rigaku 與學術界和工業界用戶合作，開發了一系列 X光繞射儀，提供當今技術上先進、應用靈活且具有成本效益的繞射解決方案。
X光繞射技術可用於識別各種材料中的晶體相，並在相鑑定之後進行定量相分析。在闡明晶體固體的三維原子結構方面，X光繞射技術具有明顯優勢。
材料的性能和功能在很大程度上取決於其晶體結構。因此，X光繞射技術已被廣泛應用，成為材料研究、開發和生產過程中不可缺少的重要手段。
X光繞射（XRD）是分析各類非晶、粉末及晶體材料最重要的無損分析技術之一。從先進開發研究到生產工程，XRD均是材料表徵和品質控制不可或缺的方法。理學透過與學術界和工業用戶合作開發了一系列 X光繞射儀，提供當今技術最先進、功能最齊全、成本效益最高的繞射解決方案。X光繞射技術主要用於鑑定各種材料的結晶相及其後續的定量物相分析。該技術在解析晶體材料的三維原子結構方面具有獨特優勢。
材料的特性與功能在很大程度上取決於其晶體結構。因此，X光繞射技術已被廣泛應用於材料研發和生產中，成為不可或缺的手段。布拉格定律（nλ = 2d sinθ） 是理解X光繞射的基石之一。在該定律中，n為整數，λ為入射到晶體樣品上的X光特徵波長，d為晶面間距，θ為X光束與相應晶面的夾角。當滿足該定律時，由週期性結構中晶面原子散射的 X光相位一致，再由角度 θ所定義的方向上產生繞射。
在最簡單的情況下，一次 X光繞射實驗由一組繞射強度及其對應的繞射角度組成。該繞射圖樣可以被視為一種“化學指紋”，透過將其與已知繞射圖樣數據庫進行比對，即可實現化學成分或物相的鑑定。
