X光繞射（XRD）是研究陶瓷晶相組成和結構的最常用技術，這些參數對陶瓷材料性能具有重大影響。與此同時，X光螢光（XRF）分析技術也廣泛應用於陶瓷和玻璃材料的元素分析。
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