地質與礦物
物相、元素與化學分析
在研究行星演化過程與地球物質組成時，地質學家需要對岩石及礦物樣本的成分與分子結構進行系統分析。X光分析技術長期作為地質研究的核心手段，憑藉微觀激發、微區成分分析與無標樣定量分析等先進功能，進一步拓展了其分析能力。
X光螢光（XRF）技術是表徵地質材料元素組成的關鍵技術。新一代波長分散式X光螢光（WDXRF）光譜儀採用微觀分析技術與XY樣品載台，可自動完成多點測量，生成化學成分分佈圖。
高性能的能量分散式X光螢光（EDXRF）光譜儀，可以在不破壞、分解、做前置處理樣品的情況下，實現從鈉到鈾元素的快速、無損分析。
X光繞射（XRD）技術用於物相組成的定量分析。X光繞射數據的Rietveld精修法是目前公認的最強大的晶相定量分析方法。理學憑藉其先進技術與專業經驗，為上述分析需求提供多種獨特解決方案。
