20250703_webinar_sangaku_02_v2

東京大学・リガク産学連携室 2025年度夏期 X線解析セミナー #2. 初心者編『薄膜X線回折法の基礎とアプリケーション紹介』

講演者:山本 泰司(アプリケーションラボ XRD分析グループ)
    長尾 圭悟(アプリケーションラボ XRD分析グループ)

概要:
薄膜X線回折法を学ぶならこのセミナー! 本セミナーは年に 2 回開催しており、毎回多くの方にご受講いただいている人気の講座です。 今年から薄膜X線回折講座も実施いたします。

[前半]では、X線回折法による薄膜試料評価の概要、粉末Ⅹ線回折法との違い、薄膜評価用Ⅹ線回折装置の装置構成などをご説明します。続いて、最も一般的なX線回折測定を薄膜試料に適用した①アウトオブプレーン測定(2θ/ωスキャン)をご紹介します。

[後半]では、微小角入射X線回折法である②GI-XRD測定(2θスキャン)、③インプレーン測定の原理と実際の分析事例を交えて解説します(X線反射率測定は含まれません)。 学生の方をはじめ、業務上知識の習得が必要になった方など、X線回折法の基礎を学びたいという皆様のご参加をお待ちしています。

東京大学・リガク産学連携室についての詳細はこちら

このセミナーで学べること

  • 薄膜X線回折法の原理と基礎
  • 薄膜X線回折測定のポイントと活用例

こんな方におすすめ!

  • 薄膜X線回折法にこれから挑戦する方・初心者の方
  • 薄膜試料のX線回折法での基本的な測定を行いたい方

日時:2025年7月3日(木)13:00 ~ 16:00

定員:500名(無料:事前登録制)

参加登録:zoom社webinar登録画面へ遷移します。

お問合せ

製品選びから据付後の技術サービスまで、何でもお気軽にお問合せください。