リートベルト解析

全パターンフィッティングによるXRD結晶構造解析

Hugo Rietveldによって発明された全パターンフィッティングによる構造精密化は、単結晶が得られないあらゆる結晶材料の構造解析のための非常に有用な方法として広く認められています。 Ｘ線回折（XRD）におけるリートベルト解析は、蛍光Ｘ線分析（XRF）におけるファンダメンタルパラメータ法（FP法）に似ています。

リートベルト法では、計算された回折パターンを導き出すために、格子定数、ピークの幅と形状、優先方位等のさまざまなパラメータを精密化します。 導き出されたパターンが未知試料のデータとほぼ同一になると、正確な重量分率、結晶子サイズ、サイト占有率といったそのサンプルに関連するさまざまな情報が得られます。 パターンを精密化するプロセスは、多成分混合物であっても結果を計算するのに数十秒から数分で完了します。 リートベルト解析は、±1%以内の正確な結果を得るのにも標準試料が不要であるという特長があり、従来の定量方法に比べてアドバンデージがあるといえます。 この進歩以前には、粉末回折を用いて複雑な物質に対する正確な結晶相定量を標準試料なしで行うことはほとんど不可能でした。