Cu線源とデスクトップX線回折装置を用いた 鉄酸化物の低バッググラウンドプロファイル測定

はじめに

Cu線源は安価で、優れた熱伝導性を有する銅を利用しているため、効率よくＸ線を発生します。特に、Cu線源の特性線Kα1線の波長はd = 0.82 Å （2θ = 140°）の格子面間隔まで観測することができるため、原子レベルでの結晶構造観察にも適しています。これらの長所がある一方、Feを豊富に含む化合物はFe原子から生じる蛍光X線によりバッググラウンドが高くなるため、微弱な回折ピークがバッググラウンドに埋没してしまうという問題があります。ここでは、酸化鉄を用いて、Cu線源でも低バッググラウンドの回折プロファイルを測定できる、エネルギー分解能の高い検出器の測定例をご紹介します。

測定・解析例

図1.線源と検出器のエネルギーモードにおけるFe₂O₃の（a）回折プロファイル　および　（b）バッググラウンドで規格化したプロファイル
（stdは標準モード、XRFは蛍光低減モード）

表1　管球と検出器のエネルギーモードにおけるFe₂O₃のQ ≈ 2.3 Å^-1ピークのP/B比
（stdは標準モード、XRFは蛍光低減モード）

推奨装置

• デスクトップX線回折装置　MiniFlex
• 高速一次元X線検出器　D/teX Ultra
• ハイブリッド型多次元ピクセル検出器　HyPix-400 MF