NEX DE

エネルギー分散型蛍光X線分析装置

製造現場での工程管理分析だけでなく、研究開発にも適したエネルギー分散型蛍光X線分析装置

少量粉末試料の分析に

粉末であれば試料量はミクロスパーテルに一杯で十分です。直接励起方式の光学系により最小径1mmの少量試料でも感度良く分析できます。

粉末X線回折の補助装置として

リガク製X線分析統合ソフトウェアSmartLab Studio II - PowderXRDプラグインの結晶相自動検索条件設定画面から、NEX DEの測定結果ファイルを読み込むことができます。NEX DEで得られた元素情報が検索条件に反映されます。

NEX DE 概要

少量粉末試料の分析に

粉末であれば試料量はミクロスパーテルに一杯で十分です。直接励起方式の光学系により最小径1mmの少量試料でも感度良く分析できます。

粉末X線回折の補助装置として

リガク製X線分析統合ソフトウェアSmartLab Studio II - PowderXRDプラグインの結晶相自動検索条件設定画面から、NEX DEの測定結果ファイルを読み込むことができます。NEX DEで得られた元素情報が検索条件に反映されます。

Na~Uまで分析が可能

研究開発から工程管理まで汎用的に使用できます。

FP法によるスタンダードレス分析

バルクFP法、薄膜FP法を標準で搭載していますので、標準試料が用意できない試料に対しても簡単に定性・定量分析が行えます。また,通常の検量線法による定量分析も可能です。

場所を選ばず設置可能

AC100V電源のみで稼働し、冷却水は不要。X線作業主任者の選任も不要です。

NEX DE 特徴

エネルギー分散型蛍光X線分析装置で、製造現場での工程管理分析だけでなく、研究開発にも適しています。測定できる元素範囲はNaからUで、ppmオーダーから主成分の元素分析が行えます。少量粉末、異物、RoHS分析用に小径コリメータ及び試料観察用カメラを含む仕様と、汎用用途向けとして、小径コリメータ及びカメラを含まない仕様から選択できます。

NEX DE 仕様

製品名 NEX DE
手法 蛍光X線分析(XRF)
用途 固体、液体、粉末、合金および薄膜の元素分析
テクノロジー SDD検出器を使用したエネルギー分散型XRF(EDXRF)
主要コンポーネント 12W-60kV X線管、SDD検出器
オプション オートサンプラー、スピナー(シングルポジション)
制御(PC) 外部PC、MS Windows® OS、QuantEZソフトウェア
本体寸法 356 (W) x 260 (H) x 351 (D) mm
重量 約 27 kg(本体)
電源 単相 100/220 VAC 50/60 Hz, 1.5 A

NEX DE アプリケーションノート

以下のアプリケーションノートはこの製品に関連しています。

NEX DE イベント

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現在予定されているイベントはありません。

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