NEX DE Series
直接励起方式EDXRF分析装置
NEX DE Seriesは、高性能な直接励起方式エネルギー分散型蛍光X線分析装置(EDXRF)です。60 kV・12 Wの透過型X線管、多彩な一次X線フィルター、高性能シリコンドリフト検出器(SDD)を搭載し、高計数率で安定した元素分析を実現します。 固体、液体、粉末、薄膜、コーティング材など幅広い試料に対応し、定性分析から定量分析まで、日常の品質管理や研究開発を強力にサポートします。厳しい品質管理用途から、少量試料・微小領域の分析まで、多様な分析ニーズに対応します。 NEX DE Seriesのラインアップは、汎用分析に適したNEX DEと、小径分析に対応したNEX DE VSの2機種です。
NEX DE Series 概要
元素分析業務をより強力にサポート
NEX DE Seriesは、高速・高精度な元素分析を実現する高性能EDXRF分析装置です。分析時間の短縮と高スループット測定に貢献し、多数の試料を扱う分析ラボから製造現場まで、幅広い用途で活用できます。 60 kV・12 Wの透過型X線管、多彩な一次X線フィルター、高性能シリコンドリフト検出器(SDD)を搭載し、高計数率での測定を実現します。優れたスペクトル分解能と低い検出下限により、微量元素から主成分まで幅広い濃度範囲の分析に対応します。さらに、オプションの自動試料交換機と組み合わせることで、多検体の連続測定にも対応できます。 標準搭載のQuantEZソフトウェアは、直感的な操作性とわかりやすいメニュー構成により、日常の分析業務を効率化します。「らくらく分析」機能により、蛍光X線分析に不慣れな方でも簡単に測定を開始できます。また、フローバー形式のウィザードに従って操作することで、新しい分析メソッドもスムーズに作成できます。 NEX DE Seriesは、研究開発、地質・鉱物分析、RoHSスクリーニング、大学・研究機関、法科学(フォレンジック)、製造現場での品質管理・工程管理など、幅広い用途に対応します。
微小領域の元素分析に適した NEX DE VS
NEX DE VSは、CCDカメラと自動切替コリメーターを搭載し、1 mm、3 mm、10 mmのスポットサイズに対応します。測定位置をカメラで確認しながら正確に設定できるため、目的箇所をねらった元素分析が可能です。 例えば粉末試料の場合、ミクロスパーテル一杯程度の少量でも測定できます。直接励起方式の光学系により、最小径1 mmの微小領域に対しても、感度よく元素分析を行えます。 また、試料室は305 mm(W) × 305 mm(D) × 105 mm(H)の大型試料に対応しています。バックライト付き内蔵カメラにより、測定位置を容易かつ正確に設定できるため、大型試料や不定形試料の一部を測定する場合にも有効です。 NEX DE VSは、小型部品のコーティング材・めっき分析、電子廃棄物中の微小試料のスクリーニング、組成不明の異物分析など、微小領域の元素分析が求められるさまざまな用途に活用できます。
粉末X線回折分析を補完する元素情報の活用
リガクX線分析統合ソフトウェア SmartLab Studio II の Powder XRDプラグインでは、結晶相自動検索の条件設定画面から、NEX DE Seriesの測定結果ファイルを読み込むことができます。 NEX DE Seriesで得られた元素情報を検索条件に反映することで、候補となる結晶相を絞り込みやすくなり、粉末X線回折による相同定を効率的にサポートします。
NEX DE Series 特長
NEX DE Series 仕様
| 製品名 | NEX DE | |
|---|---|---|
| 手法 | 蛍光X線分析(XRF) | |
| 用途 | 固体、液体、粉末、合金および薄膜の元素分析 | |
| テクノロジー | SDD検出器を使用したエネルギー分散型XRF(EDXRF) | |
| 主要コンポーネント | 12W-60kV X線管、SDD検出器 | |
| オプション | オートサンプラー、スピナー(シングルポジション) | |
| 制御(PC) | 外部PC、MS Windows® OS、QuantEZソフトウェア | |
| 本体寸法 | 356 (W) x 260 (H) x 351 (D) mm | |
| 重量 | 約 27 kg(本体) | |
| 電源 | 単相 100/220 VAC 50/60 Hz, 1.5 A | |
NEX DE Series アプリケーションノート
以下のアプリケーションノートはこの製品に関連しています。
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B-XRF3009 - エネルギー分散型蛍光X 線分析装置NEX DE -陶磁器着色部の小径分析-
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B-XRF3034 - JIS K 0470による土砂類中の全ひ素及び全鉛の定量分析
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B-XRF3028 - エネルギー分散型蛍光X 線分析装置 NEX DE 廃石膏中の微量有害元素分析
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B-XRF3017 - エネルギー分散型蛍光X 線分析装置 NEX DE -ガラス原料中不純物の分析-
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B-XRF3016 - エネルギー分散型蛍光X 線分析装置 NEX DE -セメント原料、製品の分析-
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EDXRF1933 - 医薬品中のパラジウム触媒残渣分析