NEX CG II Series

次世代偏光光学系エネルギー分散型蛍光X線分析装置

進化した元素分析装置

NEX CG II Seriesは、分析精度を重視した偏光光学系のエネルギー分散型蛍光 X 線装置 (EDXRF) です。各種油類や液体、固体、金属、ポリマー、生体試料、粉末試料、ペースト試料、コーティング試料、薄膜試料など、さまざまな種類の試料の主成分および微量成分に対し、迅速に定性分析および定量分析や膜厚測定を行います。

NEX CG II Series 概要

高度な研究用途から産業用品質管理まで

NEX CG II Seriesは汎用の元素分析装置であり、ppmレペルから100%まで広範囲の元素分析が可能で多くの業界で使用されています。使用アプリケーションは産業および工場内の品質保証から研究開発まで多岐にわたります。分析ソフトウェアQuantEZは研究開発で専門家が使用するのに有用であり、また、らくらく分析機能は技術者以外のオペレーターにとっても使いやすい仕様となっています。これにより、ユーザーは複雑なアプリケーションでも容易に分析ができ、農業土壌や植物材料の検査、動物飼料、廃油、環境モニタリング、医薬品、化粧品といったあらゆる試料の元素分析用途に最適です。

 

優れた分析力を実現

NEX CG II Seriesは用途に応じてX線管出力 50 W 50kV励起(NEX CG II) または 65 kV 100 W 65kV励起(NEX CG II+)を提供します。いずれもエンドウィンドウ パラジウム(Pd)陽極 X 線管を採用し、ナトリウム(Na)からウラン (U) までの元素範囲をカバーする 5種類の二次ターゲットと独自の偏光光学系により優れた分析力を発揮します。高スループットの大面積シリコンドリフト検出器、ファンダメンタル・パラメータ法(FP法)を用いた高度な RPF-SQX解析ソフトウェアを組み合わせて、業界で最も高感度なEDXRFの測定を実現します。

ユーザーは、32、40、および 52 mm の試料に対応するさまざまなオートサンプラー(オプション)を使用して、ハイスループットの測定を行うことができます。 NEX CG II Seriesは冷却水や液体窒素を必要とせず、装置の大きさは 463 mm (W) × 492 mm (D) × 382 mm (H) です。分析性能が優れ、設置面積が小さいことは、分析センターや研究開発施設にとって魅力的な機器です。

トレースピークに対する優れた分析性能を備えた NEX CG IIと、より高出力システムを必要とする要求の厳しいアプリケーション向けの100 W X 線管を備えた NEX CG II+ では、医薬品原料、触媒、化粧品の微量元素分析、エアフィルター上のエアロゾル中の有毒金属のモニタリング、および微量重金属と希土類元素 (REE) の分析に最適です。

 

デカルト幾何学を応用した偏光光学系

従来の直接励起型のEDXRF装置とは異なり、NEX CG II Seriesは二次ターゲットを使用する励起システムを採用しています。二次ターゲットから発生する単色励起により、水、炭化水素、生物材料などの散乱能が高い試料における元素の検出下限が大幅に向上します。X線管、2次ターゲット、試料に対し、各90°のカルテシアン配置とすることで偏光が利用でき、バックグラウンドノイズが除去されます。その結果、NEX CG II Seriesは XRF技術において新たなレベルの分析感度を可能としました。

 

高度な分析ソフトウェア

NEX CG II Seriesは、シンプルな分析ナビゲーションとカスタマイズ可能ならくらく分析といったインターフェイスを備えたソフトウェアのQuantEZ で簡単に分析ができます。ユーザーは、簡素化されたルーチン操作で生産性を向上させ、フローバーによる分析ナビゲーションを使用して独自の分析メソッドを作成できます。さらに、21 CFR Part 11 準拠の統合ソフトウェアのSureDI など、ユーザーのニーズを満たすさまざまなソフトウェア オプションが利用可能です。

 

RPF-SQX(スタンダードレスFP)

高度なスタンダードレス分析は、Rigaku Profile Fitting (RPF) 技術と散乱線FP を特長とする RPF-SQXソフトウェアによって行われます。この優れた解析ソフトウェアにより、標準試料を用いずにスタンダードレス分析が可能です。また、標準試料を使用した場合、厳密な定量分析が可能となります。散乱線FP法は、非測定の低原子番号元素(H~F)を自動的に推定し、適切な補正を行います。

標準試料は、多くのアプリケーションにおいて高価で入手が困難な場合があります。 RPF-SQX を使用すると、必要な標準試料の数を減らすことができ、コスト削減に大きく貢献します。

NEX CG II Series 特徴

ナトリウム(Na)からウラン(U)の非破壊元素分析
固体、液体、粉末、コーティング、および薄膜の迅速な元素分析
微量分析に適した低バックグラウンド偏光光学系
大面積高速SDD検出器
大気、ヘリウム、または真空雰囲気で分析可能
QuantEZ® 多言語ユーザー インターフェイスを備えたソフトウェア
高度なスタンダードレスFP分析プログラム(RPF-SQX)
簡単操作ユーザーインターフェース「らくらく分析」
残分推定機能(散乱線FP法)
最大52mm径のサンプルに対応するさまざまな試料交換機

NEX CG II Series 仕様

製品名 NEX CG II
NEX CG II+
手法 蛍光X線分析(XRF)
用途 固体、液体、粉末、合金および薄膜の元素分析
テクノロジー 偏光光学系を用いたエネルギー分散型XRF
主要コンポーネント 50W 50kV励起 PdターゲットX線管(NEX CG II)
100W 65kV励起 PdターゲットX線管(NEX CG II+)
SDD検出器
ソフトウェア 高機能ソフトウェア QuantEZ
オプション 真空排気機構、ヘリウム置換機構試料交換機構
試料交換機、試料スピン機構、FP法、その他ソフトウェアオプション
本体サイズ 463 (W) x 492 (D) x 382 (H) mm
質量 約65 kg (NEX CG II)
約68 kg (NEX CG II+)
所要電源 単相AC100V 3.8A(NEX CG II オプション除く)
単相AC100V 5.2A(NEX CG II+ オプション除く)

NEX CG II Series アプリケーションノート

以下のアプリケーションノートはこの製品に関連しています。

NEX CG II Series イベント

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