DicifferX WAXS Edition

高強度の微小X線ビームによる圧倒的な測定時間の短縮

• 高強度回転対陰極Ｘ線発生装置と高精度の人工多層膜Ｘ線集光ミラーの組合せにより、Ｘ線強度10⁹ cps、ビーム幅200 μmを実現し、高輝度のＸ線ビームを試料に照射することができます。
• 高輝度の X 線ビームは、測定時間の大幅な短縮と同時に時間分解能の向上に貢献します。これにより、フィルム材料などの等温延伸測定において、時間とともに変化する構造を高速時分割測定で捉えることが可能です。

ゴニオメーターレスの構造による広い試料空間と柔軟なアタッチメントの組合せ

• 試料空間は 420 mm (H) x 190 mm (W) x 400 mm (D) と広く、耐荷重は5kgと高いため、多彩な試料環境ステージやアタッチメントの設置が可能です。また、Linkam製の延伸ステージや加熱・冷却ステージは、リガク製ソフトウェアで制御可能で、多様な試料環境と測定ニーズに柔軟に対応します。

拡張測定機能による幅広い2θ範囲（最大360°）の2次元データ測定

• 試料と検出器の距離を40 mm ～ 140 mm の範囲で調整可能。また2次元平板法による測定において、β方向に360°の領域に対応することができます。

ユニークな高分子構造解析ソフトウェア

• 高分子材料の構造解析に特化したリガク独自のソフトウェアにより、2次元データを用いて結晶構造や配向分布など高分子材料の物性に関わる重要な情報を定量的に解析し、視覚的に表示することができます。