X線トポグラフィ装置

    X線トポグラフィは、材料科学において結晶性材料内の欠陥(変位や粒界など)を視覚化するために使用される高度な技術です。試料にX線を照射することで、結晶構造によりX線が吸収され、回折され、または透過され、結晶格子の方位と品質に応じて明確なパターンが生じます。これらのパターンは、試料の内部構造に関する詳細な情報を示し、欠陥を含むものもあります。X線トポグラフィは、材料の特性や性能に影響を与える欠陥を研究するのに特に有用であり、先端材料の開発や半導体デバイスの挙動を理解するために使用されます。

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