FSAS II
自動ウェーハ結晶面方位測定X線装置 FSAS II
ウェーハの主面の切断角度、OF・ノッチ位置を自動で測定する装置です。
FSAS II 特長
真空チャック方式で試料を保持します。0°,90°,180°,270°の、各面内回転位置ごとに自動スキャニングし、ピーク位置を検出します。ウェーハの切断面を基準に、X方向、Y方向の偏差角を演算し出力します。
タッチパネル式PCにより操作します。
自動測定、自動演算のため、人為的な測定誤差をなくすことができます。
2θ設定(測定面):Si(111)、(110)、(100)、(211)、(511)
試料サイズ:径φ200mmまたはφ300mmのOF、またはノッチ付ウェーハ
FSAS II イベント
学会や展示会にご参加の際は、リガクの展示ブースにぜひお立ち寄りください。
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イベント日付場所ウェブサイト
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応用物理学会春季学術講演会 (JASAP EXSPO SPRING 2026)2026年3月15日 - 2026年3月18日東京科学大学 大岡山キャンパス
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SEMICON China 20262026年3月25日 - 2026年3月27日SNIEC, Shanghai, China
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Rigaku Taiwan professional training courses (XRD)2026年3月27日 - 2026年3月27日Rigaku Taiwan (RTC-TW)
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SEMICON Taiwan 20262026年9月2日 - 2026年9月4日Taipei, Taiwan
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ICSCRM20262026年9月27日 - 2026年10月2日パシフィコ横浜 ノース
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SEMICON Japan 20262026年12月9日 - 2026年12月11日東京ビッグサイト
FSAS II