電子回折構造解析装置

単結晶X線構造解析に必要な結晶の最小サイズは、最高クラスのX線源と最新型の検出器を使用した場合でも1μm程度です 。一方、近年では数百ナノメートル以下の微小結晶からなる物質の構造解析を行うニーズが増えています。

ナノ結晶材料から三次元構造を得るために、X線回折の代わりに電子回折を利用したMicroED／3D EDという新しい手法が開発されました。電子回折は、X線回折の測定限界よりさらに小さい極微小結晶に対して単結晶構造解析を可能とします。ただし、電子線は物質と非常に強く相互作用するため、対象となるサンプルの厚みに上限が生じる等、MicroED／3D EDにはX線回折法とは異なる課題も存在しますが、両技術を相補的に活用することで、より有益な構造情報をユーザーに提供します。