XSPA-200 ER
シームレス多次元ピクセル検出器
デスクトップ型X線回折装置に搭載可能になった、高いエネルギー分解能を実現した多次元ピクセル検出器
高いエネルギー分解能
Cu線源を用いたX線回折測定では、鉄鋼材料や電池材料に含まれる遷移金属元素の影響により、プロファイル中のバックグラウンドが高く観測され、微量結晶相ピークの検出が困難になります。本検出器は、高いエネルギー分解能によって試料由来の蛍光X線をカットし、バックグラウンド成分を低減させます。そのため、従来機よりも高感度な測定を実現しています。
シームレス多次元ピクセル検出器
0、1、2次元に対応しているため、一般的なX線回折パターンの取得からデバイ-シェラー環の形状測定まで実施可能です。本検出器はデスクトップ型X線回折装置に搭載可能です。
XSPA-200 ER 概要
高いエネルギー分解能
低バックグラウンド化により、PB比が向上し微量相を明瞭に観測可能です。
高い直線計数性と広いダイナミックレンジ
単結晶基板のような高強度を示す試料も測定可能です。
Kβフィルターレス測定も可能
高エネルギー分解能の特長を生かしKβフィルターレスの測定も可能です。
XSPA-200 ER 特長
エネルギー分解能が高いため、低バックグラウンド測定が可能となり、鉄鋼材料、リチウムイオン電池用の正極材など遷移金属が含まれる材料に真価を発揮
多次元ピクセル検出器のため、0、1、2次元測定が可能
高い直線計数性と広いダイナミックレンジにより、単結晶基板のような高強度を示す試料も測定可能
XSPA-200 ER 仕様
| 製品名 | XSPA-200 ER | |
|---|---|---|
| 手法 | X線回折 | |
| エネルギー分解能(CuKα) | 340 eV (蛍光X線低減モード使用時) | |
| ピクセル数 | 32,768 pixels | |
| ピクセルサイズ | 75 μm × 75 μm | |
| 計数率 | >1×105 cps/pixel | |
| 検出面積 | 19.2×9.6 = 184.32 mm2 | |
XSPA-200 ER アプリケーションノート
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