D/teX用モノクロメーター
オプションの二次モノクロメーターを D/teX Ultra 250 シリコン ストリップ検出器と併用すると、優れたエネルギー分解能が得られます。 D/teX Ultra 250 を二次モノクロメーターと組み合わせて使用すると、320 eV のエネルギー分解能が達成され、CuKα の場合は 4% になります。
すべての製品
すべてのリガク製品をみる
製品をさがす
ニーズに合ったベストな製品をさがす
製品について問い合わせる
製品について問い合わせる
半導体計測装置
ラボからファブまでX線計測ソリューション
単結晶構造解析装置
結晶構造解析のためのX線および電子回折装置
X線回折・散乱装置
結晶性材料評価のためのX線回折装置
蛍光X線分析装置
元素分析のための蛍光X線分析装置
X線検査装置・CT
X線イメージングのためのCTおよび透過法検査装置
熱分析装置
材料評価のための熱分析および発生ガス分析装置
携帯型ラマン分光計
材料分析のための携帯型ラマン分光計
要素部品
X線発生装置、X線検出器、光学素子などの要素部品
インライン・オンライン製品
インラインモニタリングシステム
ナノテクノロジー＆マテリアルサイエンス
原子スケール・ナノスケール・マイクロスケールでの材料構造解析
マテリアルサイエンス
マテリアルサイエンスのための結晶構造解析、ナノスケール形態評価および元素分析
ナノテクノロジー
ナノテク研究のための原子スケールからナノスケールでの材料評価
先端材料
先端材料のための最新分析手法
化学
液体、粉末、バルク固体、フィルム、単結晶などを研究するための様々なソリューション用分析ツール
塗装・コーティング
塗装・コーティングのための組成および結晶構造評価
金属・合金
金属・合金材料の元素分析、結晶相評価、およびテクスチャ解析
高分子・プラスチック
添加剤濃度・結晶化度解析、先端材料評価のための分析ツール
コンポジット
コンポジット材料のフィルター・繊維・空隙・クラック評価のための高分解能3Dイメージング
セラミックス
セラミックス評価のための結晶相分析および元素分析
製品
産業分野
半導体計測装置
X線回折・散乱装置
X線検査装置・CT
要素部品
ナノテクノロジー＆マテリアルサイエンス
バイオテクノロジー＆ライフサイエンス
安全＆セキュリティー
参考資料ライブラリー
