高分子分析シリーズ #1. X線CTによる高分子材料の構造評価

高分子材料や製品の内部構造を非破壊で効率的に評価する方法をご紹介します。

X線CTは試料を切断せずに内部構造を可視化できるため、構造評価には欠かせない装置です。しかし、試料や撮影の目的によっては撮影条件の検討に時間を要してしまうこともあります。
X線CTに興味はあるが、どのような装置があるのか、何ができるのか知りたいというご要望に応えるべく、本ウェビナーではX線CTの原理と基礎に加え、実際の高分子材料の撮影及び解析事例まで幅広くご紹介します。

評価方法の選択肢を増やし、材料の機能や生産プロセスの向上にぜひお役立てください。

このセミナーで学べること
　・X線CTの原理と基礎
　・X線CTで高分子材料の構造がどこまで分かるのか

こんな方におすすめ！
　・X線CTにご興味ある方
　・X線CTを使用したことはあるが、撮影条件の決め方にお困りの方

日時：2025年5月13日（木）14:00～ 15:15（14:00～14:30）

定員：500名（無料：事前登録制）