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製剤開発を支える粉末X線回折シリーズ #1. 透過法のすゝめ - ”試料全体”を見る医薬品のX線回折測定

講演者: 徳舛 奈々(アプリケーションラボ XRD分析グループ)

概要:
粉末X線回折で医薬品を測定するとき、「反射法ではうまくピークが出ない」「反射法と透過法の使い分けが分からない」と感じたことはありませんか? 粉末X線回折測定で一般的に用いられる反射法では、配向や試料表面の状態の影響により、正確な回折パターン取得が難しい場合があります。

本ウェビナーでは、これらの課題を解決する「透過法測定」に焦点を当て、その原理から反射法との違い、さらに医薬品試料を対象とした実測データを交えてわかりやすく解説します。透過法の基礎を一度に学べる内容で、これから医薬品の粉末X線回折測定を始める方や、再現性の高いデータ取得を目指す方に最適です。

このセミナーで学べること

  • 透過法の原理
  • 透過法のメリット

こんな方におすすめ!

  • 医薬品の粉末X線回折測定が初級レベルの方
  • 再現性の高いデータ取得を目指す方

日時:2026年 2月10日(火) 14:00 ~ 14:45

定員: 500名(無料:事前登録制)

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