什麼是 X光拓撲成像？
晶體材料缺陷的可視化
X光拓撲成像（X-ray topography）是一種基於布拉格繞射的成像技術。繞射拓撲圖記錄的是晶體繞射 X光束的強度分佈。拓撲圖因此表示反射 X光的二維空間強度映射，即勞厄反射的空間精細結構。這種強度分佈反映了晶體內部散射能力的分佈情況，因此，拓撲圖能夠揭示非理想晶格中的不規則性和缺陷。
X光繞射拓撲成像是 X光成像技術的一種變體，它利用的是繞射對比，而非X光照相和電腦斷層成像（CT）中通常採用的吸收對比。XRT 被廣泛用於晶體品質監測以及多種晶體材料中缺陷的可視化。例如，在新晶體生長方法的開發過程中，可用於監控晶體生長情況及所獲得的晶體品質，並透過反覆優化生長條件來改進結果。在許多情況下，拓撲成像無需對樣品進行製備或造成損傷，因此屬於一種無損檢測技術。
