什麼是 X光螢光 (XRF)？
幾乎可測量任何基體中的幾乎所有元素
X光螢光（XRF）是用於測定多種材料元素組成的分析方法之一，具有操作簡便、準確性高且經濟實惠等優點。作為研發（R&D）和品質保證（QA）中不可或缺的分析手段，Rigaku 先進且獨特的 WDXRF 產品被廣泛用於從水泥、塑膠到金屬、食品以及半導體晶圓等各類產品的分析。Rigaku 的產品覆蓋範圍廣泛，從針對高階要求應用的高功率、高性能波長分散式 WDXRF 系統，到完整系列的桌上型 EDXRF 和 WDXRF 系統。
X光螢光原理
在 XRF 中，當原子吸收能量足夠高的光波（光子）時，原子軌道中的電子可能被擊出。光子的能量（hν）必須大於電子與原子核之間的結合能。當原子內層軌道的電子被擊出後（中間示意圖），來自更高能階軌道的電子會躍遷到較低能階軌道。在這一躍遷過程中，原子可能會發射出一個光子（最右側示意圖）。
這種螢光輻射稱為該元素的特徵X光。
所發射光子的能量等於發生躍遷的兩個電子軌道之間的能量差。由於在同一元素中，特定電子軌道殼層之間的能量差始終是固定的（即具有元素特徵性），因此電子在這兩個能階之間躍遷時所發射的光子始終具有相同的能量。由此，透過測量某一元素所發射 X光（光子）的能量（或波長），即可確定該元素的種類。
