定量分析
樣品各組成份的含量
分析化學通常可以分為兩大類：定性分析和定量分析。定性分析的目的是確定某一元素、化合物或物相是否存在於樣品中。同樣地，定性有機或生化分析是在確定樣品中是否存在某一官能基、有機化合物或配位基。與此相對，定量分析則是確定樣品中某一元素、化合物或其他組成份的含量。
在 X光螢光（XRF）分析中，原子軌道中的電子可以透過吸收來自 X光管的 X光（光子）而被激發並逸出。當內層軌道電子被激發移出後，能量更高的電子會躍遷來填補該空位。在這一躍遷過程中，會發射出具有特徵能量的光子，不同元素對應的特徵光子能量是唯一的。單位時間內發射的特徵光子數（計數率，counts per second，cps）與樣品中該元素的含量成正比。因此，透過確定樣品光譜中 X光峰的能量並測量其對應的計數率，可以執行元素的定性和定量分析。
X光繞射（XRD）圖譜包含峰位和峰強度訊息。峰位反映了物相的晶體結構和對稱性，而峰強度反映了該物相晶體結構中各晶面產生的總散射強度，並且直接取決於結構中各類原子的分佈。Rietveld 定量分析是一種強有力的方法，可用於確定多相混合物中晶態組成份和非晶組成份的含量。
