ZSX Primus IV

上照式掃描型波長分散式 X光螢光光譜儀

固體、液體、粉末、合金和薄膜的元素分析

作為一款上照式掃描型波長分散式 X光螢光（WDXRF）光譜儀，理學 ZSX Primus IV 可對多種類型樣品進行快速定量分析，測定從鈹（Be）到鋦（Cm）的主量元素與微量元素，且對標準品的需求極低。

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ZSX Primus IV 概覽

全新ZSX Guidance專家系統 XRF 軟體

ZSX Guidance 為XRF 測量和數據分析提供全方位支援。只有專家才能完成精確分析嗎？不，那已成為歷史。ZSX Guidance 軟體內建 XRF 專業知識和專有技術，可自動完成複雜參數設定。操作人員只需輸入樣品基本訊息、分析組成份和標準成分，系統即可藉助定性光譜自動設定重疊最少的測量譜線、最佳背景角度和校正參數（包括譜線重疊）。

卓越的輕元素 XRF 分析性能和可靠的倒置光學系統

ZSX Primus IV 採用創新的上照式光學配置，徹底避免光路汙染及樣品室維護導致的停機困擾。光學上置結構不僅消除了清潔上的煩惱，更顯著提升設備利用率。ZSX Primus IV 配備業界最薄的30微米端窗X光管，具有卓越的性能和靈活性，可用於複雜樣品分析，達到優異的輕元素（低 Z 值）檢測限。

面掃描與多點 XRF 分析

ZSX Primus IV結合先進的元素分佈分析軟體，可輕鬆達到樣品均勻性與夾雜物的詳細 XRF 光譜分析，取得其他分析方法難以企及的分析結果。選配的多點分析功能更有助於消除非均勻材料的取樣誤差。

使用 EZ-scan 軟體的 SQX 基本參數法

EZ-scan 允許用戶無需任何預設的前提下對未知樣品進行 XRF 元素分析。這項省時省力的功能僅需點擊數次滑鼠並輸入樣品名稱即可完成。結合 SQX 基本參數軟體，可提供當前最準確、最快速的 XRF 分析結果。SQX 能夠自動校正所有基體效應（包括譜線重疊），並可校正光電子（輕元素與超輕元素）引發的二次激發效應、不同測量環境、雜質及樣品尺寸差異。透過比對圖譜庫和完善的掃描分析程序可進一步保證分析的準確性。

ZSX Primus IV 功能

元素分析範圍從鈹（Be）至鋦（Cm）

ZSX Guidance專家系統軟體

數位多通道分析儀（D-MCA）

用於常見測量的 EZ 分析互動介面

上照式光路設計，有效避免汙染

小巧設計，有效節省實驗室空間

微量分析功能支援最小分析直徑為微米的樣品

30μ光管提供卓越的輕元素分析性能

元素形貌/分佈面掃描分析功能

氦氣置換功能，光學系統始終保持真空狀態

ZSX Primus IV 技術規格

技術類型	波長分散式 X 光螢光光譜（WDXRF）
核心應用	固體、液體、粉末、合金和薄膜的元素分析
技術平臺	上照式掃描型 WDXRF
標準配置	3 kW或 4 kW密封 X 光管，48 位自動進樣器，元素分析：鈹（Be）至鋦（Cm），真空系統
選配配置	氦氣置換系統、附加分析晶體、r-θ 極座標樣品臺/面掃描功能
控制系統	外置PC、MS Windows 操作系統、ZSX 專業分析軟體
尺寸	1310（寬）×1470（高）×890（深）mm
重量	約 620 公斤（核心零件）
電源要求	1Ø, 200 VAC 50/60 Hz, 8 kW

ZSX Primus IV 應用說明

以下應用說明與本產品相關

XRF1131 - Standardless FP Analysis of Lithium-ion Battery Cathode Material LiFePO₄ by ZSX Primus IV

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BATT1021 - Composition Analysis for Argyrodite-Based Sulfide Solid Electrolyte Material

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BATT1007 - Impurity Analysis for Graphite Anodes

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BATT1006 - Impurity Analysis for NCM Cathode Material

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BATT0004 - Chemical Composition Analysis of NMC Cathode

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BATT0001 - Battery Material Development

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WDXRF1099 - Trace Element Analysis in Geological Samples by the Pressed Powder Method, using GEO-TRACE-PAK

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WDXRF1085 - Trace Element Analysis for Water Solution by Micro-droplet Method using Ultra Carry Filter Paper

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WDXRF1068 - Silicate Rock Analysis by Fusion Method

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WDXRF1071 - Semi-quantitative FP Analysis of Geological Samples

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WDXRF1023 - Pt, Rh and Pd Analysis of Used Automobile Catalyst by WDXRF

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WDXRF1084 - Mapping and Small Spot Analysis with a General-Purpose XRF Spectrometer

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WDXRF1101 - Fused Bead Analysis for Refractories using Application Package Refractory Series

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WDXRF1100 - Fused Bead Analysis for Wide Concentration Ranges of Various Oxide Materials using OXIDE-FB-PAK

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WDXRF1092 - Fixed Angle Measurement using the Semi-Quantitative Analysis Function SQX of ZSX Guidance Software

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WDXRF1096 - Fe, Ni and Co Based Alloy Analysis by Fundamental Parameter Method using ZSX Primus III+

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WDXRF1070 - Chlorine Analysis of Aluminosilicate for Fluid Catalytic Cracking Catalyst by WDXRF

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WDXRF1086 - Boron and Fluorine Quantitative Analysis for Water Solution by Micro-droplet Method using Ultra Carry Filter Paper

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WDXRF1088 - Boron Analysis in Glass Powder

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WDXRF1091 - Beryllium Analysis in Beryllium Copper Alloy using ZSX Primus IV with RX85

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WDXRF1109 - Automatic Quant Application Setup Applied to Calibrating Coal Fly Ash Fused Beads

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WDXRF1089 - Analysis of Hazardous Heavy Elements in Soil and Sediment using ZSX Primus IV

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WDXRF1126 - Accurate Quantitative Analysis of Ferrosilicon by the Fusion Method using ZSX Primus III NEXT

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WDXRF1124 - Quantitative Analysis of Blast Furnace Slag by Fusion Method on the ZSX Primus III NEXT

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WDXRF1121 - Quantitative Analysis of Cast Iron using ZSX Primus III NEXT

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WDXRF1123 - Quantitative Analysis of Stainless Steel using the ZSX Primus III NEXT

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WDXRF1122 - Silicate Rock Analysis by Fusion Bead Method on ZSX Primus III NEXT

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WDXRF1120 - Quantitative Analysis of Low Alloy Steel using the ZSX Primus III NEXT

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WDXRF1119 - Cement Raw Meal Analysis by Pressed Powder Method on the ZSX Primus III NEXT

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WDXRF1060 - Elemental Determination of Whole Coal by the Pressed Powder Method

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WDXRF1047 - Highly Accurate Determination of Total Iron in Natural and Processed Iron Ores using Pressed Powder Method

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WDXRF1063 - Thickness/composition of ITO Thin Film by FP Method

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WDXRF1102 - Standardless FP Analysis of Plant, Animal and Food Samples Applying Correction by Scattering Line

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WDXRF1090 - Semi-quantitative Analysis of Recycled Solid Fuel with Benchtop WDXRF Supermini200

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WDXRF1059 - Semi-quantitative Analysis of Glass Raw Materials

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WDXRF1036 - Semiquant Analysis by the SQX Scatter FP Method

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WDXRF1062 - Quantitative Analysis of Soda-lime Glass

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WDXRF1042 - Quantitative Analysis of Low Alloy Steel using the Supermini200

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WDXRF1055 - Quantitative Analysis of Aluminum Alloy on Supermini200

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WDXRF1061 - Polymetallic Sulfide Ore Analysis with Supermini200

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WDXRF1048 - Fused Bead Analysis for Wide Concentration Ranges of Various Oxide Materials on Benchtop WDXRF

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WDXRF1058 - Quantitative Analysis of Dolomite and Limestone by Pressed powder Method with Supermini200

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WDXRF1066 - Determination of Chemical Composition of Nickel Laterite Ore by Fusion Method

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WDXRF1041 - Copper Concentrate by Pressed Powder Method

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WDXRF1040 - Cement Raw Meal by the Pressed Powder Method

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WDXRF1114 - Cement Analysis by the Pressed Powder Method on Benchtop WDXRF Supermini200 According to ASTM C114-18

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WDXRF1115 - Cement Analysis by the Fusion Method on Benchtop WDXRF Supermini200 According to ASTM C114-18

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WDXRF1110 - Cement Analysis by the Fusion Method According to ASTM C114-18

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WDXRF1052 - Accurate Determination for Elements in Laterite Ores by Pressed Powder Method

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ZSX Primus IV 資源

網路研討會

土壤和沉積物中有害重元素的分析	觀看影片
在 ZSX Primus IV 上建立定量 XRF 藥物分析方法	觀看影片
快速簡便地檢查原料藥和中間體中殘留催化劑的無損 XRF 技術	觀看影片
利用 WDXRF 直接對固體進行 CNOX 分析，以確認成分並確定鹽類/化學計量學、水合物和溶解物	觀看影片
使用簡便的 XRF 元素分析技術來支援藥物製劑的開發	觀看影片
利用 XRF 對完整藥丸進行非破壞性直接分析，對原料藥效力、輔料混合均勻性和重金屬雜質進行品質控制	觀看影片

理學期刊文章

無氦氣液體樣品的 X 光螢光分析	閱讀文章
鋰離子電池電極材料的無標準FP XRF分析	閱讀文章
有望成為有用輕質材料的鎂合金的 X 光分析	閱讀文章
使用預先校準套件對油類進行多元素分析的 OIL-MULTI-PAK	閱讀文章
使用 UltraCarry 透過 X 光螢光光譜法進行水分析	閱讀文章
使用 XRF 定量應用套件測定耐火產品	閱讀文章
進階 ZSX 指導--半定量分析（SQX 分析）	閱讀文章
利用波長分散式 XRF 光譜法進行水泥分析	閱讀文章
X 光螢光分析的樣品製備 VIII.液體凝固法	閱讀文章
粉末樣品分析中熔融法和壓粉法分析結果的比較	閱讀文章
如何利用 X 光螢光分析測量微量樣品	閱讀文章
利用 X 光螢光分析的 FP 方法分析薄膜樣品的厚度和成分	閱讀文章
波長分散式 X 光螢光光譜儀：ZSX Primus IV	閱讀文章
X 光螢光分析的樣品製備 V. / 融珠法--第 2 部分：實際應用	閱讀文章
X 光螢光分析的樣品製備 IV.	閱讀文章
X 光螢光分析的樣品製備 III.壓製和鬆散粉末法	閱讀文章
X 光螢光分析的樣品製備 II.粉末樣品的粉碎方法	閱讀文章
用熔珠法對礦石和岩石進行 X 光螢光分析	閱讀文章
利用 X 光螢光光譜法分析廢水和河水中的微量重元素	閱讀文章

ZSX Primus IV 活動

在以下活動中深入了解我們的產品

活動

日期

地點

活動網站
AAPS PharmSci 360 - 2026

2026年10月25日 - 2026年10月28日

New Orleans, LA, USA

網站
SERMACS 2026

2026年11月4日 - 2026年11月7日

Memphis, TN, USA

網站
Webinar: Integrate Analytical Instruments into Your Self-driving Lab

2026年11月11日 - 2026年11月11日

Webinar

網站
Eastern Analytical Symposium (EAS) 2026

2026年11月16日 - 2026年11月18日

New Jersey

網站
MRS Fall 2026

2026年11月29日 - 2026年12月4日

Boston, MA, USA

網站
Advanced Automotive Battery Conf 2026

2026年12月8日 - 2026年12月11日

Las Vegas, NV, USA

網站

ZSX Primus IV 訓練

即將舉辦的訓練課程

標題

日期

費用

地點

備註

課程大綱

報名表單
ZSX Primus IV & Supermini200 training (EMEA)

2026年11月30日 - 2026年12月2日

Please contact ECOE@rigaku.com

Neu-Isenburg, Germany

ZSX Primus IV & Supermini200 training

課程大綱

報名表單
ZSX Primus IV & Supermini200 training (EMEA)

2027年2月8日 - 2027年2月10日

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Neu-Isenburg, Germany

ZSX Primus IV & Supermini200 training

課程大綱

報名表單
ZSX Primus IV & Supermini200 training (EMEA)

2027年8月2日 - 2027年8月4日

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Neu-Isenburg, Germany

ZSX Primus IV & Supermini200 training

課程大綱

報名表單
ZSX Primus IV & Supermini200 training (EMEA)

2027年12月6日 - 2027年12月8日

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Neu-Isenburg, Germany

ZSX Primus IV & Supermini200 training

課程大綱

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