MiniFlex 概覽
搭載 HPAD 偵測器的 X光粉末繞射系統
MiniFlex XRD 系統透過核心技術迭代實現了速度和靈敏度的雙重提升，其中包括： HyPix-400 MF二維混合像素陣列偵測器 （HPAD）、可選配 的600 瓦X光源以及新型 8 位自動樣品進樣器。
混合像素陣列偵測器（HPAD）
該直接光子計數偵測器能夠實現高速、低雜訊數據採集，支援多模式同時運作： 0D 和 1D 模式針對常見XRD分析，2D模式針對粗晶粒樣品或存在擇優取向的樣品實現精確表徵。
XRD 附件增強您的 MiniFlex
提供多類型X光管陽極、樣品旋轉與定位附件以及各類溫度控制附件，確保 MiniFlex X光繞射（XRD）系統適用於多種應用領域，可完成複雜樣品的定性與定量分析，滿足了基礎科學研究與品質等需求。全新的第六代MiniFlex X光繞射儀實踐了理學 「以創新引領行業」的理念，致力於為您提供全球頂尖的桌上型粉末繞射解決方案。
X光無縫像素陣列偵測器
XSPA-200 ER是 MiniFlex專用的小巧型多維像素偵測器，其核心優勢在於高能量解析度。XSPA-200 ER 能有效識別樣品產生的螢光 X光，顯著降低繞射圖譜的背景強度， 使 MiniFlex 能夠獲得更高品質的測量數據。
先進的粉末繞射軟體
每臺 MiniFlex 都標配全功能最新版粉末繞射分析軟體程式 SmartLab Studio II。新增功能包括：基於基本參數法（FP）的高精度繞射峰擬合、整合晶體學開放數據庫（COD）的物相鑑定，以及從頭執行晶體結構解析的引導功能。
MiniFlex X光繞射儀的技術演進史
理學 MiniFlex X光繞射儀（XRD）是全球首款商用桌上型X光繞射儀，具有里程碑意義。初代Miniflex™ 桌上型 X光繞射儀於 1973 年問世，其體積僅為同期傳統設備的約十分之一，成本亦大幅降低；第 2 代產品於1976 年推出，沿用了第1代機型的水平測角儀，數據輸出依賴內置紙帶記錄儀；1995 年推出的第3代產品 Miniflex+，實現了跳躍性的功率提升（450W，30kV/15mA），並率先引入Windows®PC 控制系統。從此，垂直測角儀與自動樣品進樣器成為後續產品的標準配置。2006年推出的第4代Miniflex II搭載了先進的單色化 X光源和 D/teX Ultra 1D 矽條偵測器。2012年推出的第5 代MiniFlex 600，將功率進一步提升至600 W，並配備了新一代粉末繞射軟體。
MiniFlex 功能
MiniFlex 影片
MiniFlex 技術規格
| 技術原理 | X 光繞射（XRD） | |
|---|---|---|
| 核心應用 | 多晶材料的物相分析 | |
| 儀器類型 | 搭載先進偵測器的桌上型X光繞射儀 | |
| 標準配置 | 600 W X光管 D/teX Ultra2 矽條偵測器 兼容非常規樣品 桌上型小巧尺寸 |
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| 選配項目 | 8位自動樣品進樣器 HyPix-400 MF (二維HPAD) 偵測器 石墨單色器 空氣敏感樣品架 ShapeFlex不規則形狀樣品架 |
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| 控制系統 | 外置PC、MS Windows 操作系統、SmartLab Studio II 軟體 | |
| 尺寸 | 620（寬） × 722（高） × 460 （深） mm | |
| 整機重量 | 80 公斤（核心零件） | |
| 電源要求 | 單相：100-240 V，50/60 Hz | |
MiniFlex 應用說明
以下應用說明與本產品相關
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B-XRD1168 - Phase identification and Quantitative Analysis of Nickel Ore by X-ray Diffraction
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B-XRD1166 - Phase Identification and Quantitative Analysis of Copper Ore by X-ray Diffraction
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B-XRD1165 - Phase Identification and Quantitative Analysis of Iron Ore by X-ray Diffraction
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XRD1014 - Ab-initio Crystal Structure Determination of a Cu-MOF Using Powder Diffraction Data Obtained from a Benchtop X-ray Diffractometer
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BATT1014 - Measurement of Li₇P₃S₁₁ Solid-State Electrolyte Using Airtight Sample Holder
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BATT1013 - Crystallite Diameter and Particle Diameter Calculation for Silicon Negative Electrode Material
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BATT0001 - Battery Material Development
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B-XRD1076 - Rietveld Quantitative Analysis of Trace Components in Cement
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B-XRD1081 - Quantitative Analysis of Polymorphic Impurities in a Drug Substance by the Calibration Method
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B-XRD1093 - Quantitative Analysis of Amorphous Components in Cement
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B-XRD1001 - Quantitative Analysis of a 4-component Sample
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B-XRD1111 - Quantitative Analysis of 3-component Sample by DD method
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B-XRD1146 - Quantification of Blast Furnace Slag by Rietveld Refinement using Reference Intensity Ratio
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B-XRD1002 - Quantification of a 4-component Sample using RIR method
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B-XRD1133 - Observation of Phase Transition Behavior of Pharmaceutical Materials with a Benchtop XRD System
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B-XRD1060 - MiniFlex Measurement of Trace Samples
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B-XRD1063 - Measurement of a Film Sample
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B-XRD1101 - High-T analysis - MiniFlex with HyPix-400 MF / BTS 500
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B-XRD1147 - High-precision Quantitative Analysis of Clinker Mineral Polymorphs by Rietveld Refinement
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B-XRD1150 - Evaluation of Graphitization Degree of Lithium-ion Battery Carbon Anode Material by X-ray Diffractometry
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B-XRD1072 - Crystallite Size Analysis Analysis of a Microvolume of Metallic Nanoparticles with a Benchtop X-ray Diffractometer
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B-XRD1071 - Crystallite Size Analysis of a Catalyst Material by the Scherrer Method
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B-XRD1127 - Background Reduction for Iron Oxide with CuKα X-rays using XRF Mode
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B-XRD1140 - Accurate and Highly Precise Quantitative Analysis of Cement Samples using Rietveld Refinement
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XRD1161 - MiniFlex XpC for Clinker Application
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XRD1160 - Fast Analysis of Mineralogical Phases in Blended Cements using Miniflex XpC
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B-XRD1148 - Composition ratio classification of ternary cathode material by cluster analysis
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B-XRD1143 - Verifying the Validity of Crystallite Sizes Determined by the FP Method
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B-XRD1115 - Quantitative Analysis of γ-Al₂O₃ by the DD Method
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B-XRD1132 - Quantitative Analysis of Glass with the DD Method
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B-XRD1142 - Quantitative Analysis of Crystal Polymorphs by the DD Method
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B-XRD1125 - Quantification of the Taste of Salt by DD (Direct Derivation) Method
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B-XRD1121 - Phase Identification of Mixed Powder by Real-time Analysis
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XRD1003 - How to Evaluate Solid Pharmaceutical Drugs (3): Confirming Hydrates
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XRD1002 - How to Evaluate Solid Pharmaceutical Drugs (2): Confirming the Presence/absence of Amorphous Substances
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XRD1001 - How to Evaluate Solid Pharmaceutical Drugs (1): Confirming the crystal form of an API
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B-XRD1149 - Evaluation of Barium Titanate Polymorphs by Rietveld Analysis
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B-XRD1018 - Crystallite Size Distribution of Zinc Oxide Nanoparticles
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B-XRD1141 - Observation of time-dependent hydration reaction by X-ray diffractometry
MiniFlex 資源
網路研討會
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| 製藥領域的粉末 X 光繞射 (XRD)應用 | 觀看記錄 |
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| SmartLab Studio II 軟體中Part 11合規性功能解析 | 觀看錄音 |
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理學雜誌/文章
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 粉末 X 光繞射基礎課程第四講：定性分析 |
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| 粉末 X 光繞射基礎課程第三講：高品質繞射數據的樣品製備與測試條件優化 |
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| X光繞射法在水泥成分分析中的應用 |
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| 兼容HyPix-400 MF 二維偵測器的桌上型 X 光繞射儀 |
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| EasyX粉末分析軟體：簡易操作下的定性和定量分析 |
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| 桌上型 X 光繞射儀 MiniFlex 300 / MiniFlex 600 |
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| MiniFlex II + D/teX Ultra的高速高解析繞射測量方案 |
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| 桌上型 X 光繞射儀 MiniFlex II + D/teX Ultra |
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MiniFlex 活動
在以下活動中深入了解我們的產品
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活動日期地點活動網站
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AAPS PharmSci 360 - 20262026年10月25日 - 2026年10月28日New Orleans, LA, USA
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Conférence GDR MATEPI2026年11月2日 - 2026年11月6日Nice, France
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SERMACS 20262026年11月4日 - 2026年11月7日Memphis, TN, USA
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34th Leoben-Conference on Polymer Engineering and Science2026年11月5日 - 2026年11月6日Leoben, Austria
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IWN2026（International Workshop on Nitride Semiconductors 2026）2026年11月8日 - 2026年11月13日Kumamoto, Japan
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Webinar: Integrate Analytical Instruments into Your Self-driving Lab2026年11月11日 - 2026年11月11日Webinar
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Eastern Analytical Symposium (EAS) 20262026年11月16日 - 2026年11月18日New Jersey
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MATERIAUX 20262026年11月16日 - 2026年11月20日Grenoble, France
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German Epitaxy Workshop2026年11月25日 - 2026年11月27日Freiburg, Germany
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MRS Fall 20262026年11月29日 - 2026年12月4日Boston, MA, USA
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Advanced Automotive Battery Conf 20262026年12月8日 - 2026年12月11日Las Vegas, NV, USA
MiniFlex 訓練
即將舉辦的訓練課程
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標題日期費用地點備註課程大綱報名表單
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MiniFlex training (USA)2026年11月9日 - 2026年11月11日$3,500OnlineWe offer up to 3 days of online training for groups of 2-5 participants, with a maximum capacity of 15 attendees per session. Day 1 covers Basic Hardware Operation and X-Ray Physics. Day 2 addresses Basic Software and Data Analysis. Day 3 explores Advanced XRD Quantitative Methods and Analysis
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MiniFlex training (EMEA)2027年3月7日 - 2027年3月8日Please contact ECOE@rigaku.comNeu-Isenburg, GermanyMiniFlex training (EMEA)
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MiniFlex training (EMEA)2027年6月27日 - 2027年6月28日Please contact ECOE@rigaku.comNeu-Isenburg, GermanyMiniFlex training (EMEA)
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MiniFlex training (EMEA)2027年10月17日 - 2027年10月18日Please contact ECOE@rigaku.comNeu-Isenburg, GermanyMiniFlex training (EMEA)
