MiniFlex XpC
小巧型 X光繞射儀
針對工業生產的品質控制系統
為將實驗室級別的卓越分析性能帶到工業生產現場，理學推出 MiniFlex XpC——它是一款專為工業生產製造環境優化的粉末繞射儀，可達到快速、精準的品質控制檢測。該儀器搭載理學全新的 EasyX 品質控制軟體，操作流程高度簡化，僅需少量點擊即可完成測試。極簡界面設計消除了操作人員之間偶然誤差。MiniFlex XpC支援配置傳送帶或機械手臂，可達到樣品的全流程自動化處理，並能與生產線上其他分析儀器協作聯動。該系統配備 800 W X光源和短直徑測角儀，性能達到實驗室級設備水準，可顯著提升品質控制的檢測通量。
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MiniFlex XpC 概覽
全新樣品裝載系統
針對品質控制優化的樣品裝載機制，操作員無需開啟儀器門即可完成樣品裝載，同時支援機械手臂聯動的線上測量模式。系統支援線上和離線的樣品操作模式。新設計的樣品旋轉載台可搭配多種類型的樣品架，以滿足不同形態的樣品檢測需求。
高耐用性的高精度水平測角儀，滿足品質控制需求
基於旗艦產品SmartLab 技術的成熟技術，開發出適用於品質控制的新型水平樣品測角儀：兼具高耐用型和小巧型設計，可在工業生產環境中保持長期穩定的物相分析精度。
小巧型高功率 X光產生系統
MiniFlex XpC搭載小巧型模製陶瓷 X光管，並對X光源產生器進行優化升級：在與 MiniFlex 桌上型 X光繞射儀的 600 W 產生器尺寸相當的前提下，達到了800 W的高功率輸出。
大偵測面積、高解析度高速一維偵測器
配備的D/teX Ultra250偵測器的偵測面積較桌上型 MiniFlex 所採用的 D/teX Ultra2 擴大1.5 倍，可獲取更高強度的繞射數據，縮短檢測週期，支援工業生產線的高通量需求。
篩選和品質控制專用 軟體 EasyX
該軟體整合了簡易測量、自動化分析、結果可視化與合格判定功能，降低了操作門檻，即使非專業分析人員亦可輕鬆上手。其新增的趨勢圖繪製功能，可達到檢測結果與設備狀態的動態追蹤。
全面的自動化支援
MiniFlex XpC 支援機械手臂或傳送帶（均為可選配件）的自動化解決方案。標準配置支援工業標準鋼環樣品架，其佔地面積僅約1 m²，為全球同類型繞射儀裡最小的設備。
MiniFlex XpC 功能
MiniFlex XpC 產品特性
理學基於多年研發所累積的 X 光繞射技術，推出專為品質控制所研發的 X 光繞射儀。設計直觀易用，操作門檻低，能確保不同操作員均可獲得穩定可靠的分析結果。透過優化的樣品裝載系統和 D/teX Ultra 250偵測器，可顯著提升系統檢測效率。
- 觸控螢幕操作
- 從測量到數據分析只需三次點擊
- 基於旗艦級 SmartLab Studio II平臺所開發
- 支援語言：中文、英語、日語
MiniFlex XpC 影片
MiniFlex XpC 技術規格
| 技術原理 | X 光繞射（XRD） | |
|---|---|---|
| 核心應用 | 小巧型品質控制專用 X 光繞射儀 | |
| 儀器類型 | θ-θ型 X 光繞射儀，搭載篩選/品質控制軟體 EasyX | |
| 標準配置 | 小巧型 X 光管 小巧型水平樣品測角儀 D/teX Ultra250 高解析度高速一維 X 光偵測器 |
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| 控制系統 | Windows 10 Pro 64 位操作系統 觸控螢幕顯示器 (支援外接PC） |
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| 尺寸 | 700（寬）x 1490（高）x 890（深）mm（核心設備） | |
| 重量 | 約 250 公斤（核心零件） | |
| 電源要求 | 單相：200-230 V 50/60 Hz, 6.5A | |
MiniFlex XpC 應用說明
以下應用說明與本產品相關
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B-XRD1172 - Phase Identification and Quantitative Analysis of Rare Earth Ore by X-ray Diffraction
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BATT1003 - Management of Graphitization Degree for Graphite Anode Material
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BATT1002 - Lattice Constant and Crystallite Diameter Management for NCM Cathode Material
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XRD1161 - MiniFlex XpC for Clinker Application
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XRD1160 - Fast Analysis of Mineralogical Phases in Blended Cements using Miniflex XpC
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B-XRD1148 - Composition ratio classification of ternary cathode material by cluster analysis
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B-XRD1150 - Evaluation of Graphitization Degree of Lithium-ion Battery Carbon Anode Material by X-ray Diffractometry
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B-XRD1168 - Phase identification and Quantitative Analysis of Nickel Ore by X-ray Diffraction
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B-XRD1166 - Phase Identification and Quantitative Analysis of Copper Ore by X-ray Diffraction
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B-XRD1165 - Phase Identification and Quantitative Analysis of Iron Ore by X-ray Diffraction
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B-XRD1143 - Verifying the Validity of Crystallite Sizes Determined by the FP Method
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B-XRD1076 - Rietveld Quantitative Analysis of Trace Components in Cement
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B-XRD1115 - Quantitative Analysis of γ-Al₂O₃ by the DD Method
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B-XRD1142 - Quantitative Analysis of Crystal Polymorphs by the DD Method
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B-XRD1093 - Quantitative Analysis of Amorphous Components in Cement
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B-XRD1146 - Quantification of Blast Furnace Slag by Rietveld Refinement using Reference Intensity Ratio
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XRD1003 - How to Evaluate Solid Pharmaceutical Drugs (3): Confirming Hydrates
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XRD1002 - How to Evaluate Solid Pharmaceutical Drugs (2): Confirming the Presence/absence of Amorphous Substances
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XRD1001 - How to Evaluate Solid Pharmaceutical Drugs (1): Confirming the crystal form of an API
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B-XRD1147 - High-precision Quantitative Analysis of Clinker Mineral Polymorphs by Rietveld Refinement
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B-XRD1149 - Evaluation of Barium Titanate Polymorphs by Rietveld Analysis
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B-XRD1140 - Accurate and Highly Precise Quantitative Analysis of Cement Samples using Rietveld Refinement
MiniFlex XpC 資源
MiniFlex XpC 活動
在以下活動中深入了解我們的產品
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活動日期地點活動網站
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IWN2026（International Workshop on Nitride Semiconductors 2026）2026年11月8日 - 2026年11月13日Kumamoto, Japan
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Eastern Analytical Symposium (EAS) 20262026年11月16日 - 2026年11月18日New Jersey
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MATERIAUX 20262026年11月16日 - 2026年11月20日Grenoble, France
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German Epitaxy Workshop2026年11月25日 - 2026年11月27日Freiburg, Germany
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MRS Fall 20262026年11月29日 - 2026年12月4日Boston, MA, USA
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Advanced Automotive Battery Conf 20262026年12月8日 - 2026年12月11日Las Vegas, NV, USA
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Webinar: Rapid and Sensitive Analysis of Respirable Crystalline Silica with XRD2026年12月16日 - 2026年12月16日Webinar
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Rigaku XRD Forum 2027: Semiconductors, Thin Films & Coatings2027年2月23日 - 2027年2月25日Neu-Isenburg, Germany
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Webinar: Autonomous Labs Are Becoming a Strategic Priority. What Does That Mean for Materials Research?2027年3月10日 - 2027年3月10日Webinar
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Webinar: What It Really Takes to Build an Autonomous Lab2027年4月14日 - 2027年4月14日Webinar
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Webinar: Case Study - Lessons from Building an Autonomous Lab at Georgia Tech2027年5月12日 - 2027年5月12日Webinar
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Webinar: How to Build AI-driven Autonomous Labs across Disparate Interdisciplinary Environments2027年6月9日 - 2027年6月9日Webinar
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Webinar: Designing Automated Sample Synthesis Workflows That Actually Work2027年7月14日 - 2027年7月14日Webinar
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Webinar: Closing the Loop: Machine Learning Workflows for Your Autonomous Lab2027年8月11日 - 2027年8月11日Webinar
