小角度 X光散射（SAXS）是膠體/奈米尺度結構表徵的核心技術：透過將低發散度的 X光束聚焦於樣品，利用內部電子密度差異所產生的相關散射訊號進行解析。
由於需要分析的結構尺寸遠大於所使用的 X光波長（如銅輻射為 1.54 Å）。因此，僅需在小角度範圍內進行測量，即可解析從幾十 Å 至數千 Å 的結構尺寸。利用粒度尺寸與散射角之間的反比關係來分析角度範圍或散射圖樣，可以解析出樣品中的形貌與尺寸特徵。
搭載引導專家系統軟體的高解析度X光繞射系統
專為奈米結構分析設計的小型廣角 X光散射儀
專為小角度 X光散射儀設計的特殊CMF 光學元件
賽諾普（Xenocs）基於 SAXS/WAXS 的解決方案已廣泛應用於奈米尺度結構表徵和相關研究領域。
探索成功應用案例，選出最佳分析技術
BATT1013 - Crystallite Diameter and Particle Diameter Calculation for Silicon Negative Electrode Material
BATT0001 - Battery Material Development
B-XRD2032 - Observation of Orientation State of Polypropylene Film Products by 2D-GIWAXS Measurement
B-XRD2023 - Phase Identification of an Organic Thin Film by GIWAXS Measurement with a 2D detector
B-XRD1110 - Particle Size Distribution Analysis of Ferroelectric Nanopowder by USAXS
B-XRD1102 - Particle Size / Distribution of Pigment Ink by USAXS
B-XRD1078 - Evaluation of Crystallite Size and Pore Size distribution of Fuel Cell Materials
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