小角度 X光散射產品系列

小角度 X光散射（SAXS）是膠體/奈米尺度結構表徵的核心技術：透過將低發散度的 X光束聚焦於樣品，利用內部電子密度差異所產生的相關散射訊號進行解析。

由於需要分析的結構尺寸遠大於所使用的 X光波長（如銅輻射為 1.54 Å）。因此，僅需在小角度範圍內進行測量，即可解析從幾十 Å 至數千 Å 的結構尺寸。利用粒度尺寸與散射角之間的反比關係來分析角度範圍或散射圖樣，可以解析出樣品中的形貌與尺寸特徵。