X光繞射與散射

X光繞射（XRD）是一種用途廣泛的科學技術，主要應用於粉末材料的分析，可提供物相組成和晶粒尺寸等關鍵訊息。透過分析繞射峰的位置和強度，研究人員能夠確定材料的晶格常數、晶體結構和物相組成。此外，XRD 還可用於應力分析，透過繞射峰位置的偏移來檢測機械應力或應變導致的晶格間距變化，從而實現對材料內部的殘餘應力的定量表徵。

小角度 X光散射（SAXS）是X光繞射技術的一個專門分支，用於研究粉末材料中奈米尺度物體或結構的尺寸、形狀及內部構造。透過測量小角度度範圍內X光的散射訊號，SAXS 可提供樣品中奈米顆粒、孔隙以及其他奈米結構的尺寸分佈、形貌特徵和排列方式等訊息。

X光繞射技術在材料科學、冶金學、地質學和藥物研發領域發揮著至關重要的作用，為先進功能材料的表徵和特定性能的開發提供了重要的技術支援。