聚合物與塑膠
元素和物相分析、粒徑和分子結構
在聚合物研發和生產品質控制中，X光螢光（XRF）分析技術對銻、鋇、溴、鈣、鉻（符合 RoHS/WEEE 法規）、銅、磷、鈦及鋅等添加劑（包括顏料、填料、阻燃劑、穩定劑）進行定性與定量分析。
此外，X光繞射（XRD）技術可用於研究多種塑膠聚合物的有序結構，其測定的結晶度可能與加工製程相關聯。通過極圖分析來確定晶胞類型、晶格參數、微觀結構和晶體取向是具有重要意義的。對於奈米尺度的週期性或晶體結構，則可藉助小角度 X光散射（SAXS）和廣角度 X光散射 （WAXS） 進行表徵。理學為上述所有分析方法提供全面的儀器與專業的技術服務。
