東京大学・リガク産学連携室　2025年度冬期　X線解析セミナー 初心者編『薄膜Ｘ線回折法の基礎とアプリケーション紹介』

概要：

薄膜X線回折法を学ぶにはこの講座！
年に2回開催している本セミナーは、毎回多くの方に受講いただき、ご好評いただいております。今回は薄膜X線回折についてです。

[前半]では、X線回折法による薄膜試料評価の概要、粉末Ⅹ線回折法との違い、薄膜評価用Ⅹ線回折装置の装置構成などを説明します。続いて、最も一般的なX線回折測定を薄膜試料に適用した①アウトオブプレーン測定（2θ/ωスキャン）を紹介します。

[後半]では、微小角入射X線回折法である②GI-XRD測定（2θスキャン）、③インプレーン測定の原理と実際の分析事例を交えて解説します(X線反射率測定は含まれません)。

学生の方をはじめ、業務上知識の習得が必要になった方など、X線回折法の基礎を学びたいという皆様のご参加をお待ちしています。

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このセミナーで学べること

• 薄膜X線回折法の原理と基礎
• 薄膜X線回折測定のポイントと活用例

こんな方におすすめ！

• 薄膜Ｘ線回折法にこれから挑戦する方・初心者の方
• 薄膜試料のX線回折法での基本的な測定を行いたい方

日時：2025年 12月11日（木） 13:00 ～ 16:00

参加登録：zoom社webinar登録画面へ遷移します。

定員： 500名（無料：事前登録制）