電子回折構造解析
サブミクロン結晶の構造解析
近年,1 µm以下の結晶から三次元構造を得るために,X線回折の代わりに電子回折を利用したMicroED/3D EDという構造解析手法が注目されています。単結晶X線構造解析と同様の原理で分子の三次元構造を決定することができますが,X線では困難であるサブミクロン結晶の構造解析が可能であるなどいくつか違いや特徴があります。
対象の結晶サイズ
電子線はX線と比較して,試料との相互作用が103-104倍大きいです。そのため,
電子回折はサブミクロン結晶の構造解析を得意としています。大きな結晶を作製することができない試料に対して放射光に代わる選択肢となります。逆に,試料が大きすぎる(厚すぎる)と電子線が透過せずにデータ測定をすることができません。測定したい結晶のサイズに応じて電子線とX線を使い分けることが重要となります。
使用する装置
MicroED/3D EDは,一般的に透過型電子顕微鏡(TEM)の電子回折機能を使用して測定することが多いです。最近では,XtaLAB Synergy-EDのような電子回折計を使用して測定することができます。
活用分野
電子回折はX線回折と同様に様々な分野での活躍が期待されています。医薬品や,低分子有機化合物,金属錯体,無機化合物,MOFなど多種多様な試料の構造を調べるのに利用することができます。

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