結晶方位
X線回折(XRD)による結晶方位決定
単結晶は幅広い分野の技術製品の基盤となるものです。単結晶の電気特性は半導体産業にとって非常に重要であり、磁気特性は磁気記憶装置の性能と深く関係します。機械的・化学的特性は物質科学の進歩の基礎をなしています。多くの場合、単結晶の特性は、結晶の種類や質だけでなく、その方位に強く依存します。そのため、単結晶を工業的に利用するためには、結晶方位の決定が不可欠です。結晶方位を決定する方法としては、X線回折が一般的な方法となっています。
アプリケーションノート
以下のアプリケーションノートは、この分析手法に関連しています。
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B-XRD2032 - 2次元検出器を用いた微小角入射広角X線散乱法によるポリプロピレン製品の配向状態評価
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B-XRD2024 - 1次元検出器モードを用いた III族窒化物薄膜の高速逆格子マップ測定
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B-XRD2023 - 2次元検出器を用いた微小角入射広角X線 散乱法による有機薄膜の結晶相同定
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B-XRD2021 - 1次元検出器モードを用いた SiGeエピタキシャル薄膜の高速逆格子マップ測定
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B-XRD2020 - 2次元検出器を用いた固体酸化物型 燃料電池材料の結晶相・配向状態評価
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B-XRD2009 - インプレーンX線回折法による 単結晶基板上の有機薄膜の結晶方位評価
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B-XRD2008 - X線回折装置による強誘電体薄膜の配向評価
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B-XRD2007 - インプレーンX線回折法による 有機薄膜の結晶成長過程の考察
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B-XRD2006 - インプレーン逆格子マップによるエピタキシャル膜および極薄バッファー層の結晶方位評価
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B-XRD2005 - インプレーンX線回折法によるラビング処理ガラス基板上の有機薄膜の結晶方位評価
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B-XRD2001 - ロッキングカーブ測定によるIII族窒化物薄膜の 結晶性(チルト・ツイスト)評価
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B-XRD1119 - ポリマーフィルムの配向係数を用いた材料評価
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B-XRD1104 - 2次元回折像を利用した 超硬材の粒子状態と配向状態の確認
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B-XRD1024 - X線回折装置による高分子フィルムの結晶方位解析
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B-XRD1014 - 極点測定による圧延板の結晶方位解析
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