東京大学・リガク産学連携室　2026年度夏期　X線解析セミナー　初心者編『薄膜X線回折測定による薄膜構造評価の基礎とアプリケーション紹介』

概要

薄膜X線回折法を学ぶにはこの講座！

本講座は年に 2 回開催しており、毎回多くの方に受講いただき、ご好評いただいている人気の講座です。今回は薄膜X線回折は単結晶膜や積層構造の解析について紹介します。

[前半]では、ロッキングカーブ測定、高分解能ロッキングカーブ測定、逆格子点マップ測定などの単結晶・エピタキシャル薄膜の解析には欠かせない測定を紹介します。

[後半]では、反射率測定や様々な手法を活用した簡単な単層～複雑な積層構造の薄膜測定事例を紹介します。

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こんな方におすすめ！

• 薄膜X線回折測定を用いて多結晶・単結晶・エピタキシャル材料薄膜や積層構造などの解析を学びたい初心者の方
• これから挑戦される方

日時：2026年 7月2日（木） 13:00 ～ 16:00

定員：500名（無料：事前登録制）