リガク薄膜分析セミナー

X線回折による薄膜評価の基礎から応用まで

薄膜X線回折の基礎と分析事例を短時間で学ぶ

本セミナーでは、薄膜X線回折（XRD）測定の基礎から、III族窒化物半導体やLED・LD開発で活用される単結晶基板、エピタキシャル膜、電極の分析事例までを、実践的な視点でわかりやすく解説します。

選べる2つの時間帯

午前だけ、午後だけ、または両方参加もご案内できます

こんな方におすすめ

• 膜材料の評価で、Ｘ線回折が何に使えるか知りたい
• 測定条件や結果の見方を整理したい
• 分析例を見ながら、自分の研究への使い方を考えたい

会場：名城大学内 天白共通講義棟東　E605演習室
　　　〒468-8502 名古屋市天白区塩釜口一丁目501番地

開催日：2026年7月22日（水）

申し込み：下記フォームよりお申込みください。