卓上型TXRF装置 NANOHUNTER II 環境水中の微量元素分析

はじめに 

全反射蛍光X線分析法（TXRF法）は、液体試料を基板に滴下・乾燥するだけで測定することができます。また内標準法を用いることにより検量線を作成することなく、多元素同時定量分析が可能です。液体試料の代表的な元素分析法である原子吸光光度分析法（AAS法）、誘導結合プラズマ発光分析法（ICP-OES法）および質量分析法（ICP-MS法）と比較し、簡便で迅速な分析が可能です。ここでは、TXRF法による環境水中に含まれる微量元素の分析例をご紹介します。

測定・解析例

淡水の標準物質NIST 1643f（Trace elements in fresh water）を用いて、分析値および検出下限の評価を行いました。Ga標準液を内標準物質として試料に添加し、試料10μLを3回、計30μLを石英ガラス基板上に滴下・乾燥した後にTXRF測定を行いました（図1）。

図1　TXRF法における試料調製

表1  NIST 1643fのTXRF分析結果 （単位：μg/L）

測定試料は5検体作製し、作製再現性の評価を行いました。

TXRF測定により得られたスペクトルを図2に示します。Siは主として石英ガラス基板に、Gaは内標準液（Internal standard, IS）に由来するピークです。また、Ga内標準による5検体の平均値における定量分析結果を表1に示します。分析値は標準値と良く一致しており、良好な結果が得られました。バックグランド強度の標準偏差の3倍から算出した検出下限値は、遷移金属元素について0.5～1 μg/L （ppb）の結果が得られており、十分に低い値が得られました。これより、液体試料の分析法としてTXRF法は非常に有効であることがわかります。

図2  NIST 1463f（Trace elements in fresh water）のTXRFスペクトル

推奨装置

• 卓上型全反射蛍光X線分析装置 NANOHUNTER II