ナノテクノロジー＆マテリアルサイエンス
X線は、原子からナノスケールの分析に最適です
短い波長をもつX線は、原子からナノスケールの構造を分析するための最適なプローブです。X線回折（XRD）装置およびその技術は、これらの分野で重要な役割を果たしています。また、蛍光X線分析（XRF）装置、X線コンピュータ断層撮影（CT）、熱分析装置もこれらすべての材料分析に役立っています。リガクの使いやすい分析装置はお客様が業務に集中できるようサポートします。
ナノテクノロジー
XRDではさまざまなナノ構造体の原子間距離を測定できます。一方、小角X線散乱（SAXS）はナノスケールの構造と形態に関する情報を提供します。これらの技術は、ナノテクノロジー材料研究において重要な役割を果たしています。
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先端材料
先端材料の研究では、通常の分析技術の限界以上の性能を求められることがよくあります。極めて薄い膜を測定したり、12インチウェハー全体で個々の転位を画像化したりする必要があります。私たちは数十年にわたり、業界のリーダーと協力し、これらのニーズに応えるための新しい技術を開発してきました。
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化学
液体、粉体、固体、薄膜、または単結晶を研究するための包括的なXRF、XRD、SAXS、X線イメージング、熱分析、およびラマン分光ソリューションを提供しています。これらのツールはすべて使いやすく、アカデミックと産業の両方をサポートしています。
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塗装・コーティング
塗装やコーティングには、目的に適した分析手法が必要です。私たちは、厚さや組成の決定にはXRFとXRR、結晶学的配向とテクスチャ解析にはXRDをお勧めしています。これらの手法は、製造工程からアカデミックな研究の場まで幅広く使用されています。
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金属・合金
金属部品の強度と整合性はしばしば重要な特性であり、これらはXRFによる元素組成、XRDによる結晶相と配向、およびX線CTによる空隙やクラックなど、さまざまな分析手法を使用して評価・制御しています。
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高分子・プラスチック
高分子とプラスチックは、研究開発と製造工程とでは分析対象が異なります。XRFは添加剤濃度を求め、RoHS/WEEE規制に準拠します。XRDは多形を識別し、結晶化度を計算します。SAXSはナノスケールの周期構造を評価し、X線CTは空隙やフィラーを明らかにします。
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複合材料
複合材料は2つ以上の材料を組み合わせたものであり、各材料の分布が複合材料の特性に影響を与えます。高分解能X線CTは、複合材料内の繊維や充填剤のサイズ、形状、分布の強力なイメージング技術です。
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セラミックス
XRDは、結晶相の組成や構造を調べるために最も一般的に使用される分析手法の1つです。結晶相の組成や構造はセラミックスの特性に大きな影響を与えることがあります。XRFも元素分析に使用されます。
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